[实用新型]涂层测厚仪的探头结构

权利要求书

1.一种涂层测厚仪的探头结构，其特征在于，包括机体，所述机体上方连接有导线，所述导线另一端连接有检测探头，所述导线外部套设有柔性套管，所述柔性套管一端与机体上方固定连接，所述柔性套管另一端与检测探头固定连接，所述柔性套管内还设有伸缩杆，所述伸缩杆一端固定于机体上方，所述伸缩杆另一端设有把手，所述把手延伸出柔性套管，所述柔性套管沿表面开设有滑动槽，所述把手设置于滑动槽内。

2.如权利要求1所述的涂层测厚仪的探头结构，其特征在于，所述柔性套管靠近检测探头一端设有卡环，所述卡环位于滑动槽一侧，所述卡环用于固定把手。

3.如权利要求2所述的涂层测厚仪的探头结构，其特征在于，所述检测探头与柔性套管之间设有加固套，所述加固套套设于导线外部，所述加固套与导线贴合固定。

4.如权利要求3所述的涂层测厚仪的探头结构，其特征在于，所述柔性套管采用波纹管的结构。

5.如权利要求4所述的涂层测厚仪的探头结构，其特征在于，所述柔性套管的长度与伸缩杆的拉伸长度相等。