[实用新型]晶体管白噪声测试系统

权利要求书

1.一种晶体管白噪声测试系统，其特征在于，包括：控制单元、白噪声测试电路及白噪声采集与分析单元；

所述控制单元包括传动装置、滑轨及位于所述滑轨上的晶体管电极安装位点，所述传动装置控制所述滑轨运动，以使安装在所述晶体管电极安装位点的待测试晶体管运动至所述白噪声测试电路的晶体管测试位点，并使所述待测试晶体管的电极与所述晶体管测试位点电性接触；

所述白噪声测试电路包括晶体管测试位点、电压源、放大电路及白噪声采集端，所述电压源为位于所述晶体管测试位点的待测试晶体管提供反向偏置电压，以使所述待测试晶体管产生白噪声；所述放大电路的输入端与所述晶体管测试位点连接，用于对所述待测试晶体产生的白噪声进行放大；所述白噪声采集端与所述放大电路的输出端连接；

所述白噪声采集与分析单元和所述白噪声测试电路的白噪声采集端连接，用于对采集的白噪声进行分析。

2.如权利要求1所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于，所述电压源包括步进可调电压源。

3.如权利要求1或2所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于，所述待测试晶体管包括PNP双极型三极管和NPN双极型三极管。

4.如权利要求3所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于，所述晶体管测试位点包括第一电阻、第一位点与第二位点；

在所述待测试晶体管为PNP双极型三极管时，所述待测试晶体管的发射极与所述第一位点电性连接，所述待测试晶体管的基极与所述第二位点电性连接；在所述待测试晶体管为NPN双极型三极管时，所述待测试晶体管的基极与所述第一位点电性连接，所述待测试晶体管的发射极与所述第二位点电性连接；

所述电压源的正极通过所述第一电阻与所述第二位点电性连接，所述电压源的负极与所述第一位点电性连接。

5.如权利要求4所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于，所述放大电路包括运算放大器、第二电阻、第三电阻及第四电阻；

所述运算放大器的正相输入端与所述第二位点电性连接；

所述第二电阻的一端与所述正相输入端连接、另一端接地；

所述运算放大器的反相输入端经由第三电阻接地，所述第四电阻连接于所述运算放大器的输出端与所述反相输入端之间。

6.如权利要求5所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于，所述放大电路还包括正电源、负电源、第一退耦电容组及第二退耦电容组；

所述正电源经由所述第一退耦电容组为所述运算放大器提供正工作电压；

所述负电源经由所述第二退耦电容组为所述运算放大器提供负工作电压。

7.如权利要求6所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于，所述放大电路的输出端包括第五电阻及连接端口，所述第五电阻的一端与所述运算放大器的输出端连接、另一端接地；

所述连接端口设置于与所述第五电阻并联的支路，所述白噪声采集与分析单元通过所述连接端口与所述输出端连接。

8.如权利要求7所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于，所述白噪声采集与分析单元包括示波器，所述连接端口包括BNC连接端口。

9.如权利要求8所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于，所述白噪声测试电路还包括第一电容和第二电容；

所述第一电容为耦合电容，连接于所述第二位点与所述运算放大器的正相输入端；

所述第二电容为耦合电容，连接于所述运算放大器的输出端与所述白噪声采集端之间。

10.如权利要求9所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于：

所述第一退耦电容组包括第三电容及第四电容，所述第三电容与第四电容并联，所述第一退耦电容组的一端接地、另一端与所述正电源连接；

所述第二退耦电容组包括第五电容及第六电容，所述第五电容与第六电容并联，所述第二退耦电容组的一端接地、另一端与所述负电源连接。