[实用新型]一种仪表老化测试柜有效

专利信息
申请号: 202020758602.4 申请日: 2020-05-09
公开(公告)号: CN212229071U 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 蒋艳芳 申请(专利权)人: 厦门宇电自动化科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04;G01R19/00
代理公司: 厦门龙格思汇知识产权代理有限公司 35251 代理人: 林显木
地址: 361006 福建省厦*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 仪表 老化 测试
【权利要求书】:

1.一种仪表老化测试柜,其特征在于:所述仪表老化测试柜具有供电切换电路,其供电输出端用于连接待测仪表,以提供变电压测试环境;

所述供电切换电路包括:

供电输入端,用于接入第一测试电压;

变压单元,其输入端耦合所述供电输入端,并通过其第一输出端和第二输出端分别输出第二测试电压和第三测试电压;所述第一测试电压大于第二测试电压且小于第三测试电压;

切换单元,包括时间继电器、第一中间继电器、第二中间继电器、第三中间继电器、第四中间继电器、第五中间继电器、第一接触器、第二接触器、第三接触器;所述时间继电器具有依预设时序切换闭合的第一时序开关和第二时序开关;所述第一中间继电器的线圈、第二中间继电器的常闭触点、第三中间继电器的常闭触点串联后与所述第四中间继电器的线圈并联,以构成第一支路;所述第二中间继电器的线圈、第一中间继电器的常闭触点、第三中间继电器的常闭触点串联后与所述第五中间继电器的线圈并联,以构成第二支路;所述第三中间继电器的线圈、第一中间继电器的常闭触点、第二中间继电器的常闭触点、第四中间继电器的常闭触点和第五中间继电器的常闭触点串联,以构成第三支路;所述第一时序开关和第二时序开关分别与所述第一支路和第二支路串联,并连接所述供电输入端,所述第三支路也连接所述供电输入端;所述第一接触器、第二接触器、第三接触器的线圈分别通过所述第一中间继电器、第二中间继电器、第三中间继电器的常开触点连接所述供电输入端;

供电输出端,其通过所述第一接触器、第二接触器和第三接触器的常开触点分别连接第一输出端、第二输出端和供电输入端。

2.如权利要求1所述的一种仪表老化测试柜,其特征在于:所述时间继电器的线圈连接所述供电输入端。

3.如权利要求1所述的一种仪表老化测试柜,其特征在于:还包括电源指示灯,其连接所述供电输入端。

4.如权利要求1所述的一种仪表老化测试柜,其特征在于:所述变压单元为双输出变压器。

5.如权利要求1所述的一种仪表老化测试柜,其特征在于:还包括输出电压表,其并联于所述供电输出端。

6.如权利要求1所述的一种仪表老化测试柜,其特征在于:所述供电输入端通过第一手动开关连接变压单元、切换单元和供电输出端。

7.如权利要求1所述的一种仪表老化测试柜,其特征在于:所述切换单元通过第二手动开关连接供电输入端。

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