[实用新型]一种光学位移测量装置有效
申请号: | 202020774432.9 | 申请日: | 2020-05-12 |
公开(公告)号: | CN211904047U | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | 陈贤明 | 申请(专利权)人: | 罗定市英格半导体科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 527200 广东省云*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 位移 测量 装置 | ||
1.一种光学位移测量装置,其特征在于,包括底座(1),所述底座(1)的顶端设置有立柱(2),所述立柱(2)的顶端开设有敞口腔(3),所述敞口腔(3)的内侧设置升降轴(4),所述升降轴(4)内套设有丝杆(5),所述丝杆(5)的底端且位于所述敞口腔(3)的底部设置有轴承(6),所述丝杆(5)的顶端设置有转盘(7),所述转盘(7)的顶端设置有指针(8);
所述立柱(2)的顶端设置端盖(9),且所述丝杆(5)贯穿所述端盖(9)并延伸至所述端盖(9)的外侧,所述升降轴(4)的圆周外侧且设置有置支撑块(10),且所述支撑块(10)穿过所述敞口腔(3)的开口,所述支撑块(10)的顶端设置有旋钮(11),所述支撑块(10)侧侧面开设有矩形通孔(12),所述矩形通孔(12)内设置有滑尺(13),所述滑尺(13)的顶端端面设置有刻度线(14),所述滑尺(13)的一端设置有光学位移传感器(15)。
2.根据权利要求1所述的一种光学位移测量装置,其特征在于,所述底座(1)包括支撑板(101),所述支撑板(101)的两侧对称设置有翻板(102),且所述支撑板(101)与所述翻板(102)之间通过转轴(103)活动连接,所述支撑板(101)的顶端开设有若干螺丝孔一(104),所述支撑板(101)的一侧开设有凹槽(105),所述凹槽(105)的槽壁上开设有轴孔一(106)。
3.根据权利要求2所述的一种光学位移测量装置,其特征在于,所述翻板(102)的一侧中间位置开设有插块(107),所述插块(107)上开设有轴孔二(108)。
4.根据权利要求1所述的一种光学位移测量装置,其特征在于,所述升降轴(4)的顶端开设有螺纹通孔(401),所述升降轴(4)的圆周外侧对称设置有限位块(402),所述支撑块(10)的顶端开设有螺纹孔一(1001)。
5.根据权利要求1所述的一种光学位移测量装置,其特征在于,所述端盖(9)的中间位置开设有通孔(901),环绕所述通孔(901)设置有刻度盘(902),环绕所述刻度盘(902)均匀开设有若干螺丝孔二(903)。
6.根据权利要求1所述的一种光学位移测量装置,其特征在于,所述立柱(2)的顶端且环绕所述敞口腔(3)开设有若干螺纹孔二(201),所述敞口腔(3)的两侧对称开设有滑槽(301)。
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