[实用新型]一种剪短管脚光器件测试工装

说明书

本实用新型公开了一种剪短管脚光器件测试工装，包括具有多个通孔的插座本体(1)和嵌入所述插座本体(1)内部通孔的金属探针(2)，每个所述金属探针(2)的一端为粗端且另一端为细端，粗端带有一个小的碗型凹坑，细端套一个弹簧，且细端通过金属导线和测试仪表相连。该剪短管脚光器件测试工装为短管脚或带FPC光器件加电的加电插座，和短管脚或带FPC光器件接触良好，可以有效解决光模块生产时光器件不良品的返修问题。

技术领域

本实用新型涉及光电组件制造技术领域，特别是涉及一种剪短管脚光器件测试工装。

背景技术

光器件是光通信系统的核心组成部分,是可以将电信号转换成光信号或者将光信号转换成电信号的光电子器件。光器件完成生产封装后，需要经过加电测试环节，现有同轴封装光器件主要通过加电插座加电，光器件的圆柱形管脚插入插座上的孔中，从而与孔中的圆柱形铜管或弹簧实现紧密接触。而铜管或弹簧的延长部分通过导线连接到测试仪表，实现光器件的性能测试。此种加电方法成本低，接触良好，性能稳定，已经成为光器件测试加电的主流加电方案。但是在光器件焊接到光模块PCBA上时，需要剪短光器件管脚，虽然一些低速或要求不高的模块可以通过短管脚直接和PCBA焊接，但是更多的高速模块需要通过软板(FPC)作为中转介质连接到光模块PCBA。高速光模块对应的光器件，为了获得更好的高频性能要求剩余管脚越短越好，短的管脚虽然有更好的性能，但是当光器件性能不良，需要返修或做性能确认时，短的管脚因其上有焊锡，通过现有加电插座加电会出现无法加电或接触不良的情况。

综上所述，如何有效地解决光模块生产时光器件不良品的返修等问题，是目前本领域技术人员急需解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种剪短管脚光器件测试工装，该剪短管脚光器件测试工装为短管脚或带FPC光器件加电的加电插座，和短管脚或带FPC光器件接触良好，可以有效解决光模块生产时光器件不良品的返修问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：

一种剪短管脚光器件测试工装，包括具有多个通孔的插座本体和嵌入所述插座本体内部通孔的金属探针，每个所述金属探针的一端为粗端且另一端为细端，粗端带有一个小的碗型凹坑，细端套一个弹簧，且细端通过金属导线和测试仪表相连。

优选地，所述插座本体的一面具有内凹部。

优选地，所述内凹部的侧壁具有用于定位光器件测试位置的定位凸点。

优选地，所述内凹部的内端面上在所述通孔处具有内倒角。

优选地，所述插座本体为圆柱体插座，所述内凹部的形状为圆柱形或者U柱形。

优选地，所述通孔为直孔。

本实用新型所提供的剪短管脚光器件测试工装，包括插座本体和金属探针，插座本体的轴向方向上具有多个通孔，通孔的数量与金属探针的数量相同，通孔的具体数量根据金属探针的数量而定，通孔的数量与金属探针的数量为两个或两个以上。金属探针嵌入插座本体内部的通孔内，优选地，通孔的尺寸比金属探针的尺寸略大，易于金属探针嵌入通孔内，金属探针和通孔两者可以相对运动。每个金属探针的一端为粗端，粗端带有一个小的碗型凹坑，当光器件的短管脚和金属探针凹坑端压力接触时，短管脚能和金属探针接触良好。金属探针的细端套一个弹簧，弹簧具体套在粗端和细端的交界处，细端的末端伸出插座本体的通孔，细端通过金属导线和测试仪表相连。弹簧的作用也是当光器件的短管脚和金属探针凹坑端压力接触时，在弹簧弹力的作用下短管脚能和金属探针接触良好。

本实用新型所提供的剪短管脚光器件测试工装，为一种剪短管脚或带FPC光器件加电的加电插座，当光器件的短管脚和金属探针凹坑端压力接触时，在弹簧弹力的作用下短管脚能和金属探针接触良好，短的管脚不用进行去除焊锡处理，可以有效解决光模块生产时光器件不良品的返修问题。

附图说明