[实用新型]接近电门功能测试电盒

说明书

本实用新型涉及一种接近电门功能测试电盒，其包括了至少一组组合电路，组合电路又分别包括了功能测试电路和电池欠压监控电路，其中功能测试电路包括了电感式接近开关模块，用于对接近电门进行功能测试，电池欠压监控电路分别包括了线性稳压模块和电压比较模块，用于对电池进行欠压监控。通过采用上述结构，本实用新型能够依据实际功能测试要求，有针对性地对多种型号的接近电门实现功能测试，同时还有效保证了测试精度。

技术领域

本实用新型涉及一种接近电门功能测试电盒。

背景技术

ELDEC公司接近电门因优良的操作环境耐性和高可靠性广泛应用于民用航空器起落架、货舱门和作动筒的到位检测。而在民用航空维修领域中，对于ELDEC公司的多种型号的接近电门（如8-344，8-345，8-518和8-935等），依据RB211-535型发动机维修手册（章节号：78-31-20和78-31-50）反推C型导管功能测试，目前往往只能通过使用塑性粘土测量接近电门到标靶的距离是否符合要求来进行功能测试，这无疑大大限制了功能测试的技术手段，从而无法更好地满足现有的功能测试需求。

实用新型内容

为克服以上现有技术的不足，本实用新型要解决的技术问题是提供一种接近电门功能测试电盒，其依据实际功能测试要求，能够有针对性地对多种型号的接近电门实现功能测试，并且还有效保证了测试精度。

本实用新型的技术方案是：

一种接近电门功能测试电盒，包括了至少一组组合电路，所述组合电路又分别包括了

功能测试电路，所述功能测试电路包括了电感式接近开关模块，用于对接近电门进行功能测试；以及

电池欠压监控电路，所述电池欠压监控电路分别包括了线性稳压模块和电压比较模块，用于对电池进行欠压监控。

上述接近电门功能测试电盒，其中所述电感式接近开关模块采用电感式接近开关集成电路芯片U1；

并且，在功能测试电路中，集成电路芯片U1的引脚1同时连接至测试端口Port 1以及二极管D1的负极，二极管D1的正极连接二极管D2的正极，二极管D2的负极连接测试端口Port 2并同时接地；集成电路芯片U1的引脚2 连接单刀双掷开关S2的引脚2，单刀双掷开关S2的引脚1串接电位器R10后接地，单刀双掷开关S2的引脚3串接电位器R11后接地；集成电路芯片U1的引脚3空置；集成电路芯片U1的引脚4串接电容C2后接地；集成电路芯片U1的引脚5串接电阻R8后接地；集成电路芯片U1的引脚6依次串接电阻R12和测试开关S3后连接至集成电路芯片U1的引脚16，同时电阻R12和测试开关S3的公共连接端还与9V接线端子Header 6的1号口连接；集成电路芯片U1的引脚7接地；集成电路芯片U1的引脚8串接电阻R9后接地；集成电路芯片U1的引脚9连接反向缓冲器H1的输入端，反向缓冲器H1的输出端连接发光二极管LED4的负极，发光二极管LED4的正极与9V接线端子Header 6的4号口连接，同时反向缓冲器H1的G端接地；集成电路芯片U1的引脚10串接电阻R13后接地；集成电路芯片U1的引脚11连接反向缓冲器H2的输入端，反向缓冲器H2的输出端连接发光二极管LED3的负极，发光二极管LED3的正极与9V接线端子Header 6的3号口连接，同时反向缓冲器H2的G端接地；集成电路芯片U1的引脚12与9V接线端子Header 6的2号口连接；集成电路芯片U1的引脚13与集成电路芯片U1的引脚14直接相连；集成电路芯片U1的引脚15串接电容C1后接地；9V接线端子Header 6的5号口串接电容C3后接地。

上述接近电门功能测试电盒，其中所述线性稳压模块采用线性稳压器芯片L1，所述电压比较模块采用电压比较器芯片L2；