[实用新型]一种霍尔芯片磁通量测试装置

权利要求书

1.一种霍尔芯片磁通量测试装置，包括底座（1）和测试组件（2），测试组件（2）固定安装在底座（1）顶部一侧，其特征在于，所述底座（1）顶部开设有圆形槽（3）和两个方形槽（13），圆形槽（3）内转动安装有圆盘（4），圆盘（4）顶部固定连接有竖轴（5）的一端，竖轴（5）顶端固定安装有转盘（6），转盘（6）顶部开设有多个通孔（7），多个通孔（7）一侧内壁上均固定连接有压紧弹簧（18）的一端，多个压紧弹簧（18）的另一端均固定安装有压板（8），竖轴（5）上固定安装有驱动齿轮（9），所述底座（1）顶部固定安装有电机（10），电机（10）输出轴上固定安装有扇形齿轮（11），扇形齿轮（11）与驱动齿轮（9）相啮合，两个方形槽（13）内均滑动安装有竖杆（14），两个竖杆（14）顶端均固定安装有卡球（15），所述竖轴（5）外侧固定套设有套圈（12），套圈（12）底部开设有多个卡槽（16），两个卡球（15）分别与对应的卡槽（16）活动卡装，两个卡球（15）底部均固定连接有复位弹簧（17）的一端，两个复位弹簧（17）的另一端均与底座（1）顶部固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片磁通量测试装置，其特征在于，多个卡槽（16）和多个通孔（7）均相对于竖轴（5）呈环形等间距设置，且卡槽（16）与通孔（7）的个数相等。

3.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片磁通量测试装置，其特征在于，所述底座（1）顶部固定安装有两个限位板（21），两个限位板（21）均与圆盘（4）顶部活动连接。

4.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片磁通量测试装置，其特征在于，所述圆形槽（3）底部内壁上开设有多凹槽，多个凹槽内均活动连接有滚珠（22），多个滚珠（22）均与圆盘（4）底部滚动连接。

5.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片磁通量测试装置，其特征在于，多个压板（8）一侧均固定连接有拉杆（19）的一端，所述转盘（6）滑动套设在多个拉杆（19）外侧，多个拉杆（19）的另一端均固定安装有拉环（20）。

6.根据权利要求1所述的一种霍尔芯片磁通量测试装置，其特征在于，两个竖杆（14）两侧均固定安装有限位销（23），两个方形槽（13）两侧内壁上均开设有限位槽，两个限位销（23）分别与对应的限位槽滑动连接。