[实用新型]长臂式摇摆座及飞针测试机构

说明书

本实用新型属于测试设备技术领域，具体涉及长臂式摇摆座，第一摆臂的两端和第二摆臂的两端分别与座体部和飞针部铰接，第一摆臂两端分别平行于摆动平面开设有两个第一长形槽，第一长形槽关于第一摆臂的中轴线对称，第二摆臂两端分别平行于摆动平面开设有两个第二长形槽，第二长形槽关于第二摆臂的中轴线对称，本实用新型还提供了飞针测试机构，飞针和金属片通过导电固定件固定在飞针部上，传感器连接在金属片上。本实用新型提供设有第一长形槽和第二长形槽，使第一摆臂和第二摆臂的应力能够分布在第一长形槽与第二长形槽，进而改善现有的摇摆座常有的侧向不稳定问题，并且提升摇摆座的弹性与使用寿命。

技术领域

本实用新型属于测试设备技术领域，具体涉及长臂式摇摆座及飞针测试机构。

背景技术

电路板是由多层薄板经过蚀刻、钻孔、压合制成，为了确保线路的质量且避免断线与短路问题，每一块出产的电路板都需要经过测试。由于终端产品走向轻薄短小，市场要求电路板尺寸更小，并且具有更多的功能。因此，电路板线路密度越来越高，测试难度也相对提高，飞针测试机构成为了目前最佳的解决方案。现有飞针测试机构的摇摆座多为其边缘形成半圆凹槽来吸收缓冲能量。然而，现有摇摆座在形成有半圆凹槽的中央最窄部位的结构较弱，容易有侧向非预期震动，导致扎针点非预期测试点之位置误差问题。由于上述缺陷，在对高密度板进行测试时，现有的测试机构容易将良品打为不良，进而增加不必要的成本。再者，由于测试数量庞大，飞针需要频繁的接触测试。然而，现有飞针测试机构却在测试时，因所产生的应力过于集中在半圆凹槽的中央最窄部位，导致摇摆座损坏，所以容易造成飞针测试机构的寿命缩短，进而大幅地影响设备的产能。

实用新型内容

针对上述现有技术的不足，本实用新型提供了长臂式摇摆座和飞针测试机构，目的是为了解决现有摇摆座在形成有半圆凹槽的中央最窄部位的结构较弱，容易有侧向非预期震动，导致扎针点非预期测试点之位置误差问题，因频繁测试所产生的应力过于集中在半圆凹槽的中央最窄部位，导致摇摆座损坏，所以容易造成飞针测试机构的寿命缩短，进而大幅地影响设备的产能的技术问题。

本实用新型提供的长臂式摇摆座具体技术方案如下：

长臂式摇摆座，包括座体部、飞针部、第一摆臂和第二摆臂，所述座体部固定设置，所述飞针部与所述座体部相向设置，所述第一摆臂和所述第二摆臂互相平行设置，所述第一摆臂的两端和所述第二摆臂的两端分别与所述座体部和所述飞针部铰接，所述第一摆臂两端分别平行于摆动平面开设有两个第一长形槽，所述第一长形槽关于所述第一摆臂的中轴线对称，所述第二摆臂两端分别平行于摆动平面开设有两个第二长形槽，所述第二长形槽关于所述第二摆臂的中轴线对称。

在某些实施方式中，所述座体部呈L形，所述飞针部呈长方形，所述第一摆臂的长度大于所述第二摆臂的长度。

在某些实施方式中，所述座体部包括梯缘和阶缘，所述梯缘和所述阶缘之间的夹角95-135°。

在某些实施方式中，所述座体部上开设有多个固定孔，所述座体部通过所述固定孔固定设置。

本实用新型还提供了飞针测试机构，包括上述的长臂式摇摆座和飞针，所述飞针位于所述飞针部的下侧面上，所述飞针部的上侧面上还设有金属片，所述飞针和所述金属片通过导电固定件固定在所述飞针部上，传感器连接在所述金属片上。

在某些实施方式中，所述飞针部上开设有一个安装孔，所述安装孔靠近所述第二摆臂。

在某些实施方式中，所述飞针设有固定端和测试端，所述固定端开设有第一辅助孔，所述第一辅助孔靠近所述第二摆臂设置，所述测试端呈尖状突出于所述飞针部设置，且远离所述第二摆臂。

在某些实施方式中，所述金属片上开设有第二辅助孔，所述安装孔、所述第一辅助孔和所述第二辅助孔均对齐设置。

在某些实施方式中，所述导电固定件为铆钉，所述铆钉穿设所述第二辅助、所述安装孔和所述第一辅助孔。