[实用新型]一种芯片测试装置

权利要求书

1.一种芯片测试装置，其特征在于：包括测试设备主体(1)、工作台(2)和测试架(3)，所述测试架(3)的上端设置有升降板(4)，所述升降板(4)通过伸缩杆(12)与测试架(3)相连接，所述升降板(4)的下方设置有压板(5)，且压板(5)通过连接柱(11)与升降板(4)相连接，所述压板(5)的下表面设置有检测板(10)，所述测试架(3)的下端设置有固定台(7)，所述固定台(7)的中间设置有放置腔(13)，所述放置腔(13)的内部设置有固定结构(8)，所述固定台(7)和放置腔(13)的相接触面位于放置腔(13)的两侧设置有限位装置(6)和缓冲结构(9)，且缓冲结构(9)位于限位装置(6)之间。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述限位装置(6)包括固定柱(601)、配合球(602)、第一固定块(603)、配合块(604)、第一固定槽(605)、固定孔(606)、转动销(607)和第一伸缩弹簧(608)，所述压板(5)上设置有固定柱(601)和配合球(602)，所述固定台(7)的内部设置有第一固定块(603)，所述第一固定块(603)的内部开设有第一固定槽(605)和固定孔(606)，所述第一固定槽(605)的内部底端设置有第一伸缩弹簧(608)，所述第一固定槽(605)的内部位于第一伸缩弹簧(608)的两侧设置有转动销(607)，所述转动销(607)上设置有配合块(604)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述固定孔(606)与固定柱(601)相配合，所述配合球(602)与配合块(604)相卡合，所述配合块(604)绕着转动销(607)转动，所述第一伸缩弹簧(608)与两个配合块(604)的底端相接触。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述固定结构(8)包括拉动杆(801)、第二伸缩弹簧(802)、第二固定槽(803)、连接块(804)、导向杆(805)和压紧框(806)，所述固定台(7)上位于放置腔(13)的两侧设置有第二固定槽(803)，所述第二固定槽(803)的内部设置有拉动杆(801)，所述拉动杆(801)上位于第二固定槽(803)的内部设置有第二伸缩弹簧(802)，所述第二固定槽(803)的内部位于拉动杆(801)的底端设置有连接块(804)，所述连接块(804)之间设置有压紧框(806)，所述第二固定槽(803)的内部设置有导向杆(805)。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述连接块(804)压缩第二伸缩弹簧(802)，所述连接块(804)沿着导向杆(805)移动，所述压紧框(806)与芯片相压紧。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述缓冲结构(9)包括接触垫片(901)、第二固定块(902)、第一移动柱(903)、第二移动柱(904)、挡板(905)、第三固定槽(906)、斜角(907)、气囊(908)和第三伸缩弹簧(909)，所述压板(5)的下表面设置有接触垫片(901)，所述固定台(7)的内部设置有第二固定块(902)，所述第二固定块(902)的内部开设有第三固定槽(906)，所述第三固定槽(906)的两侧内部设置有第一移动柱(903)和第二移动柱(904)，所述第一移动柱(903)和第二移动柱(904)相贴合面设置有斜角(907)，所述第二移动柱(904)的一端设置有挡板(905)，所述第二固定块(902)的内部位于挡板(905)之间设置有气囊(908)，所述第二移动柱(904)之间位于气囊(908)的下方设置有第三伸缩弹簧(909)。

7.根据权利要求6所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述第一移动柱(903)与第二移动柱(904)相互垂直，所述第一移动柱(903)沿着竖直方向移动，所述第二移动柱(904)和气囊(908)沿着水平方向移动，所述接触垫片(901)与气囊(908)相接触。

8.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述升降板(4)沿着伸缩杆(12)的方向移动，所述压板(5)底端的检测板(10)与固定台(7)上的放置腔(13)相对齐，所述放置腔(13)的内部位于固定结构(8)的中间安装有芯片。