[实用新型]一种双头单转动式测试探针

说明书

本实用新型公开了一种双头单转动式测试探针，包括一针管，所述针管包含开口端和铆口端，针管的内壁上形成有内套，所述内套的轴向至少设置有一个滑槽；一第一针轴，所述第一针轴设置在所述针管内，第一针轴的头部从所述开口端伸出，第一针轴的尾部外壁上设置有与所述滑槽匹配的同等数量的滑块；一第二针轴，所述第二针轴的头部从所述铆口端伸出；一弹簧，所述弹簧设置在针管内，弹簧的两端分别抵压在第一针轴、第二针轴的尾部。该双头单转动式测试探针，解决了双头单转动的测试探针进行组装时，当第一针轴装入针管中未打点固定前，容易发生偏移脱落的问题。

技术领域

本实用新型属于精密五金组装技术领域，尤其是涉及一种双头单转动式测试探针。

背景技术

测试探针是一种广泛应用于测试半导体、PCB板、FPC等起连接作用的精密探针。随着被测物越来越小，测试探针也在减小，与此同时也增加了产品的加工难度，特别是对双头单转动的测试探针组装带来较大挑战。

双头单转动的测试探针主要由第一针轴、针管、弹簧和第二针轴构成，现有组装工艺一般是先将第一针轴装入针管中并进行打点固定，然后将弹簧、第二针轴从针管的另一端依次装入，最后加工铆口完成封装。该组装工艺的难点在于，装配第一针轴时因产品尺寸较小，第一针轴装入针管中未打点固定前，容易发生偏移脱落，致使组装后的测试探针报废率较高。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种双头单转动式测试探针，以解决双头单转动的测试探针进行组装时，当第一针轴装入针管中未打点固定前，容易发生偏移脱落的问题。

为了实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：一种双头单转动式测试探针，包括：

一针管，所述针管包含开口端和铆口端，针管的内壁上形成有内套，所述内套的轴向至少设置有一个滑槽；

一第一针轴，所述第一针轴设置在所述针管内，第一针轴的头部从所述开口端伸出，第一针轴的尾部外壁上设置有与所述滑槽匹配的同等数量的滑块；

一第二针轴，所述第二针轴的头部从所述铆口端伸出；

一弹簧，所述弹簧设置在针管内，弹簧的两端分别抵压在第一针轴、第二针轴的尾部。

本实用新型的技术方案，还具有以下特点：

所述第一针轴的尾部端面上设置有第一环形槽，所述弹簧的一端位于所述第一环形槽内。

所述第二针轴的尾部设置有锥形面，所述弹簧的另一端套设在所述锥形面上。

所述第一针轴的尾部外壁上设置有第二环形槽，所述针管的外部设置有凹点加工位，所述凹点加工位位于第二环形槽侧部。

所述滑槽和所述滑块的数量均为二。

所述弹簧为压缩弹簧。

本实用新型的有益效果是：本实用新型的一种双头单转动式测试探针，其原理是通过在第一针轴的尾部外壁上加工滑块，在针管的内套上设置有与滑块相匹配的滑槽，当第一针轴装入针管时，需将滑块与滑槽对准后才能顺利装入，当第一针轴装入针管后，第一针轴的滑块将限位在滑槽中，可以起到防止第一针轴发生偏移脱落的作用。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型的一种双头单转动式测试探针的结构示意图；

图2为图1中第一针轴的结构示意图；

图3为图1中套管形成内套处的结构示意图。