[实用新型]一种ADC性能测试电路、芯片和设备

说明书

本实用新型提供了一种ADC性能测试电路、芯片和设备，其电路包括：测试模块，放置有待测芯片，用于接入对应ADC通道所输入的测试信号至所述待测芯片进行测试，并将产生的测试数据先从ADC通道的数据寄存器存储到数组中，再将数组中的测试数据搬运到第一储存模块；控制模块，与所述测试模块连接，用于读取所述第一储存模块储存的所述测试数据进行处理得到所述待测芯片的静态参数和动态参数。本实用新型解决数据实时存储困难的问题，并实现了数据储存稳定，准确高效的效果，以及有效可靠地自动化测试ADC的动态参数和静态参数。

技术领域

本实用新型涉及ADC测试技术领域，尤指一种ADC性能测试电路、芯片和设备。

背景技术

随着工、农业的发展，多路数据采集势必将得到越来越多的应用，为适应这一趋势，作这方面的研究就显得十分重要。总之，不论在哪个应用领域中，数据采集与处理将直接影响工作效率和所取得的经济效益。数据采集系统，从严格的意义上来说，应该是用计算机控制的多路数据自动检测或巡回检测，并且能够对数据实行存储、处理、分析计算以及从检测的数据中提取可用的信息，供显示、记录、打印或描绘的系统。

在数据采集系统中，ADC(Analog-to-DigitalConverter)即模拟/数字转换器是模拟量与数字量接口的关键部件。现实世界中的信号，如温度、声音、无线电波、或者图像等，都是模拟信号，需要转换成容易储存、进行编码、压缩、或滤波等处理的数字形式，模拟/数字转换器正是为此而诞生，发挥出不可替代的作用。目前，随着数字处理技术的飞速发展，在通讯、消费电器、工业与医疗仪器以及军工产品中，对ADC的需求越来越多。ADC的测试是进行ADC研究、新产品试制和开发，以及ADC生产与应用中不可缺少的一个重要手段。

ADC的性能好坏直接影响整个系统指标的高低和性能好坏，从而使得ADC的性能测试变得十分重要。高速、高精度、低功耗、多通道是ADC未来的发展趋势。对于ADC来说，其动态参数和静态参数均格外重要，因而如何成为非常有意义的工作。因而，如何解决现有ADC测试中数据实时存储困难的问题，以及如何自动化测试ADC的动态参数和静态参数是目前本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种ADC性能测试电路、芯片和设备，实现解决数据实时存储困难的问题，以及有效可靠地自动化测试ADC的动态参数和静态参数。

本实用新型提供的技术方案如下：

本实用新型提供一种ADC性能测试电路，其特征在于，包括：测试模块，放置有待测芯片，用于接入对应ADC通道所输入的测试信号至所述待测芯片，并将产生的测试数据先从ADC通道的数据寄存器存储到数组中，再将数组中的测试数据搬运到第一储存模块；

控制模块，与所述测试模块连接，用于读取所述第一储存模块储存的所述测试数据进行处理得到所述待测芯片的静态参数和动态参数。

本实用新型还提供一种芯片，其特征在于，集成有所述的ADC性能测试电路。

本实用新型还提供一种ADC性能测试设备，集成有所述的ADC性能测试电路。

通过本实用新型提供的一种ADC性能测试电路、芯片和设备，能够解决数据实时存储困难的问题，以及有效可靠地自动化测试ADC的动态参数和静态参数。

附图说明

下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对一种ADC性能测试电路、芯片和设备的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。

图1是本实用新型一种ADC性能测试电路的一个实施例的结构示意图；

图2是本实用新型一种ADC性能测试电路的另一个实施例的结构示意图；

图3是本实用新型一种ADC性能测试电路的另一个实施例的结构示意图；