[实用新型]光谱探头和光谱分析仪有效

专利信息
申请号: 202020868787.4 申请日: 2020-05-21
公开(公告)号: CN212301281U 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 刘小雄;陈文洪;彭建勇;邓子明;李杰辉;杨冬林 申请(专利权)人: 深圳市拓普泰克电子有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/25
代理公司: 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 代理人: 邝艳菊
地址: 518000 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光谱 探头 光谱分析
【说明书】:

实用新型公开一种光谱探头和光谱分析仪。其中,该光谱探头包括:外壳、设于外壳的多个发光组件及至少一个光敏传感器;外壳设置有安装槽和与所述安装槽间隔设置的容置槽,所述安装槽和所述容置槽的槽口呈同向设置,所述外壳为遮光材质,多个所述发光组件产生多束不同波长的光束,多束光束照射至待测试物品,所述光敏传感器采集待测试物品反射的光束;多个所述发光组件设于所述容置槽内,所述光敏传感器设于所述安装槽内;或,所述光敏传感器设于所述容置槽内,多个所述发光组件设于所述安装槽内。本实用新型光谱探头简化光谱分析仪的结构,提高光谱分析仪的可维护性。

技术领域

本实用新型涉及光谱分析设备技术领域,特别涉及一种光谱探头和应用该光谱探头的光谱分析仪。

背景技术

在科研领域通常采用光谱分析仪测试物品的组成结构。常见的光谱分析仪发光一束连续光照向待测试物品,待测试物品对光束进行反射,被待测物体反射回来的光束经过棱镜分光,然后在不同位置得到不同波长的光波,在对应位置有一传感器,来检测反光强度,最后合成被测物体的反光强度光谱。因此,常见的光谱分析仪需要采用结构较为复杂的光学分光结构,导致设备的体积较大,结构较为复杂。

上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种光谱探头,旨在简化光谱分析仪的组成结构。

为实现上述目的,本实用新型提出的光谱探头包括外壳、多个发光组件及至少一个光敏传感器,外壳设置有安装槽和与所述安装槽间隔设置的容置槽,所述安装槽和所述容置槽的槽口呈同向设置,所述外壳为遮光材质,多个所述发光组件产生多束不同波长的光束,多束光束照射至待测试物品,所述光敏传感器采集待测试物品反射的光束;

多个所述发光组件设于所述容置槽内,所述光敏传感器设于所述安装槽内;或,所述光敏传感器设于所述容置槽内,多个所述发光组件设于所述安装槽内。

在本实用新型的一实施例中,所述外壳包括壳体和挡光套筒,所述壳体设置定位槽,所述挡光套筒设于所述定位槽内,所述挡光套筒与所述定位槽的内壁面围合形成所述安装槽和所述容置槽,所述容置槽环绕所述安装槽设置。

在本实用新型的一实施例中,多个所述发光组件设于所述容置槽内,并环绕所述安装槽;

或,多个所述发光组件设于所述安装槽内,多个所述发光组件呈阵列排布。

在本实用新型的一实施例中,所述壳体和所述挡光套筒为一体成型设置。

在本实用新型的一实施例中,多个所述发光组件中,相邻两个所述发光组件发出不同波长的光束;

且/或,多个所述发光组件中部分所述发光组件发出相同波长的光束。

在本实用新型的一实施例中,多个所述发光组件发出光束的波长为375nm至1600nm。

在本实用新型的一实施例中,所述发光组件为LED光源。

在本实用新型的一实施例中,所述光谱探头包括两个光敏传感器,两个所述光敏传感器相邻设于所述安装槽内。

在本实用新型的一实施例中,所述光谱探头还包括保护罩,所述保护罩设于所述外壳,并盖合所述安装槽的槽口和所述容置槽的槽口,所述保护罩为透明材质。

本实用新型还提出一种光谱分析仪,包括电路板和所述光谱探头,所述电路板与所述光谱探头的多个发光组件和光敏传感器电连接,所述电路板控制至少一个所述发光组件发光,并通过所述光敏传感器获取待测试物品反射的光束。

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