[实用新型]芯片检测模块

权利要求书

1.一种芯片检测模块，其特征在于，包括有光路检测组件和检测拨手组件；所述检测拨手组件中的检测拨手将芯片拨动至检测位，所述检测位位于芯片载台上，所述芯片载台移动使所述光路检测组件对芯片进行检测；所述芯片检测模块设置有上部屏蔽罩和下部屏蔽罩。

2.根据权利要求1所述的芯片检测模块，其特征在于，所述检测拨手组件具有检测拨手控制电机，所述检测拨手控制电机驱动检测拨手控制电机主动轮旋转，所述检测拨手控制电机主动轮通过检测拨手控制电机皮带带动检测拨手控制电机从动轮；所述检测拨手与检测拨手滑块连接块连接，所述检测拨手滑块连接块固定连接有检测拨手滑块，所述检测拨手滑块与所述检测拨手沿着检测拨手滑滑轨运动。

3.根据权利要求1所述的芯片检测模块，其特征在于，所述检测拨手一端设置有检测拨手限位片，设置在所述芯片检测模块的底板上的检测拨手限位光耦连接块固定连接检测拨手限位光耦，用于所述检测拨手的运动限位。

4.根据权利要求1所述的芯片检测模块，其特征在于，所述光路检测组件具有采光头，所述采光头上部设置有发射板；位于所述检测位下部设置有接收板，所述发射板发射激光，经过所述采光头对位于所述检测位上的芯片反应腔中的反应物进行荧光激发，再被所述接收板接收，经荧光收集、放大后计算得出检测结果。

5.根据权利要求4所述的芯片检测模块，其特征在于，在所述发射板下方，从上往下依次设置有第一滤光片、第一透镜、第二透镜和第二滤光片；所述接收板设置在所述第二滤光片下方；其中所述第一滤光片和第一透镜属于所述采光头的一部分；所述采光头与采光头固定块连接，所述采光头固定块与所述芯片检测模块的底板连接。

6.根据权利要求5所述的芯片检测模块，其特征在于，所述第二透镜和第二滤光片侧面分别设置有第一遮光块和第二遮光块；所述第二遮光块遮挡来自芯片弃置通道的环境光，同时作为所述芯片弃置通道的连接块。

7.根据权利要求1所述的芯片检测模块，其特征在于，所述芯片载台由芯片载台控制电机驱动，所述芯片载台控制电机带动芯片载台丝杆转动，所述芯片载台丝杆上的芯片载台电机螺母连接块运动；所述芯片载台电机螺母连接块与所述芯片载台连接，所述芯片载台连接有芯片载台滑块一和芯片载台滑块二；所述芯片载台滑块一和芯片载台滑块二带动所述芯片载台沿着芯片载台滑轨运动。

8.根据权利要求1所述的芯片检测模块，其特征在于，该芯片检测模块还设置有弃置拨手，用于将检测后的芯片拨至芯片弃置通道中；所述弃置拨手由弃置拨手控制电机驱动，弃置拨手滑块固定在所述芯片检测模块的顶板上，弃置拨手滑轨连接弃置拨手电机螺母连接块；所述弃置拨手控制电机带动弃置拨手丝杆转动，所述弃置拨手电机螺母连接块沿着所述弃置拨手丝杆运动，所述弃置拨手电机螺母连接块与竖板相连接，所述竖板与横板连接；所述弃置拨手一端与所述横板连接作为弃置拨手固定部，所述弃置拨手另一端作为弃置拨手拨动部用于拨动芯片至所述芯片弃置通道中。

9.根据权利要求8所述的芯片检测模块，其特征在于，所述弃置拨手电机螺母连接块上固定有弃置拨手限位块，所述弃置拨手限位块的弃置拨手感应部与安装在所述顶板的弃置拨手限位传感器配合用于弃置拨手的限位。

10.根据权利要求9所述的芯片检测模块，其特征在于，所述弃置拨手设置有两个，分别设置在所述横板的两侧。