[实用新型]非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置

说明书

本实用新型涉及一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，该装置其包括：中控板系统、可控电源系统、上位机软件系统、显示系统以及控温系统；其中：所述中控板系统分别与所述上位机软件系统、所述显示系统以及所述可控电源系统连接；其中：所述控温系统包括高温箱和低温箱。本实用新型通过设计一种中控板系统、可控电源系统、上位机软件系统、显示系统以及控温系统相互集成的装置，降低NVM产品的可靠性测试需要投入大量的硬件成本和时间成本。

技术领域

本实用新型涉及一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置。

背景技术

近年来，嵌入式非挥发性存储器（NVM）已经超出了嵌入式应用和微控制器代码存储的范围，进入了从大容量消费类电子产品到高可靠性汽车及工业产品的数据应用领域。随着嵌入式NVM应用范围的扩大，这些新的应用和需求促使新技术的产生，并催生了嵌入式NVM市场的新用户。

无论终端应用是大容量消费类电子产品还是高可靠性汽车部件，嵌入式NVM都必须充分具备高品质、高稳定性和高可靠性，不仅需要在生产中保证高良率，还要确保整个产品生命周期具有可靠的现场性能。所以，相对于一般集成电路芯片，NVM产品的可靠性测试项目涉及更多，需要模拟产品在高/低温等恶劣使用环境的可靠性情况，通常要求NVM产品需要在低温（-40℃）、室温（25℃）、高温（125℃）对产品反复进行读、写操作，多达100万次。

因此，嵌入式非挥发性存储器产品的可靠性测试需要投入大量的硬件成本和时间成本。

实用新型内容

针对上述现有技术的缺点或不足，本实用新型要解决的技术问题是提供一种低成本的非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置。

为解决上述技术问题，本实用新型具有如下构成：一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，其包括：中控板系统、可控电源系统、上位机软件系统、显示系统以及控温系统；其中：所述中控板系统分别与所述上位机软件系统、所述显示系统以及所述可控电源系统连接；其中：所述控温系统包括高温箱和低温箱。

本实施例的技术效果为：通过设计一种中控板系统、可控电源系统、上位机软件系统、显示系统以及控温系统相互集成的装置，降低NVM产品的可靠性测试需要投入大量的硬件成本和时间成本。

更进一步的，所述中控板系统包括供电模块和读写擦除数据模块。

本实施例的技术效果为：通过在所述中控板中设置供电模块和读写擦除数据模块可以对实现供电功能和读写擦除数据功能。

更进一步的，所述上位机软件系统包括NVM读写模块和实时Pass/Fail判断模块。

本实施例的技术效果为：通过在所述上位机软件系统中设置NVM读写模块和实时Pass/Fail判断模块可以实现不同规格NVM读写功能和实时Pass/Fail判断功能。

更进一步的，所述上位机软件系统还包括芯片数据传输模块，用于对芯片数据进行传输及保存。

本实施例的技术效果为：通过在所述上位机软件系统中设置芯片数据传输模块可以实现对芯片数据传输的功能。

更进一步的，所述上位机软件系统还包括中控板控制模块，用于对所述中控板进行控制。

本实施例的技术效果为：通过在所述上位机软件系统中设置中控板控制模块可以实现对所述中控板进行控制的功能。

更进一步的，所述上位机软件系统还包括测试数据反馈模块，用于对所述测试数据进行反馈。

本实施例的技术效果为：通过在所述上位机软件系统中设置测试数据反馈模块可以实现对所述测试数据进行反馈的功能。

更进一步的，所述上位机软件系统还包括数据计算模块，用于判断中控板是否处于异常状态。