[实用新型]一种岩石样本磨平抛光加载装置及岩石样本制样系统有效

专利信息
申请号: 202020904119.2 申请日: 2020-05-26
公开(公告)号: CN212658519U 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 郭唯明;王登红;曹殿华;孙艳 申请(专利权)人: 中国地质科学院矿产资源研究所
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N1/32
代理公司: 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 代理人: 庞立岩;顾珊
地址: 100032 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 岩石 样本 磨平 抛光 加载 装置 系统
【说明书】:

实用新型涉及一种岩石样本磨平抛光加载装置及岩石样本制样系统,属于岩石样本制样技术领域,解决现有制样方法制样效率低、成品率低的问题。岩石样本磨平抛光加载装置包括样本卡盘、连接板、样品压块、配重组件和修盘环;样本卡盘和连接板均能够可拆卸安装于修盘环中,连接板位于样本卡盘的上方;样本卡盘设有样品安装孔;样品压块能够安装于样品安装孔内;连接板设有配重通孔,配重组件能够通过配重通孔向样品压块以及位于样品压块下方的岩石样品施加压力;采用热塑树脂将岩石样本固定在样品压块的下表面,岩石样本的待研磨抛光面与样品压块的上表面平行。本实用新型的结构简单、制样效率高、成品率高。

技术领域

本实用新型涉及岩石样本制样技术领域,尤其涉及一种岩石样本磨平抛光加载装置及岩石样本制样系统。

背景技术

在对各种岩石或天然矿物进行组份、晶体微观结构和光学特性等物理性质进行测试时,需要将采集的岩石制作成长方形的薄片状岩石样本,结合相应的测试设备对岩石样本的长方形平面进行相应的测试。因此,岩石样本的平整程度和光滑程度直接关系到测试结果的准确性和可靠程度。岩石样本的制样过程通常需要对岩石进行切割,将其切割成尺寸接近的片状结构,也即高度较小的长方体,再对需要进行测试的平面进行进一步的磨平和抛光。

由于岩石本身的不规则特性,现有制样方法很难将岩石切割成相对规整的长方形片状,往往会切割成平行四边形或梯形等不规则四边形,且上下平面往往难以平行,导致厚度不均匀,其结果就是需要后续的磨平过程对岩石样本进行进一步的处理,使之形成长方形薄片,极大地增加了磨平抛光过程的工作量,而且废品率高。

另外,现有制样方法在磨平抛光过程中,通常采用胶水粘结或机械固定的方式来固定切片后的岩石样本,再对岩石样本进行磨平抛光,但是由于切割和粘结等原因,岩石样本的待研磨抛光面往往高度不一,且容易出现倾斜等情况,而磨平过程中往往磨掉0.5mm就需要20min以上,微小的厚度不均匀性也会造成磨平作业的大量额外负担,而且由于岩石样本的切割厚度浮动较大,当需要处理多个岩石样本时,只能逐个来进行磨平和抛光,效率十分低下,而且成品率低。

实用新型内容

鉴于上述的分析,本实用新型旨在提供一种岩石样本磨平抛光加载装置及岩石样本制样系统,用以解决现有制样方法工作量大、工作效率低、成品率低的问题。

本实用新型的目的主要是通过以下技术方案实现的:

一方面,提供一种岩石样本磨平抛光加载装置,包括样本卡盘、连接板、样品压块、配重组件和修盘环;样本卡盘和连接板均能够可拆卸安装于修盘环中,连接板位于样本卡盘的上方;样本卡盘设有样品安装孔;样品压块能够安装于样品安装孔内;连接板设有配重通孔,配重组件能够通过配重通孔向样品压块以及位于样品压块下方的岩石样品施加压力。

进一步地,样本卡盘为旋转对称结构,且沿周向均匀布设多个样品安装孔。

进一步地,连接板设有与样品安装孔数量相同的配重通孔。

进一步地,配重组件包括配重杆和配重块,配重块可拆卸安装于配重杆上。

进一步地,样品压块能够无缝安装于样品安装孔内;在研磨抛光过程中,样品压块能够在配重组件施加的压力作用下在样品安装孔中向下移动。

进一步地,样品压块的顶面中心设有定位槽。

进一步地,岩石样本采用热塑树脂固定在样品压块的下表面,岩石样本的待研磨抛光面与样品压块的上表面平行。

进一步地,样品压块的下表面设有用于安装岩石样品的卡槽,卡槽充填有热塑树脂;

进一步地,卡槽的截面形状为四边外凸的矩形,卡槽的尺寸小于样品安装孔的尺寸,且大于岩石样本的尺寸。

进一步地,配重组件的数量与样品压块的数量相同。

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