[实用新型]一种二极管电性测试结构有效

专利信息
申请号: 202020932060.8 申请日: 2020-05-28
公开(公告)号: CN212364486U 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: 覃荣俊 申请(专利权)人: 中之半导体科技(东莞)有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 东莞市永桥知识产权代理事务所(普通合伙) 44400 代理人: 何新华
地址: 523430 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 二极管 测试 结构
【说明书】:

实用新型提供一种二极管电性测试结构,包括测试限位板、安装板A、安装板B、第一测试片组、第二测试片组;第一测试片组包括测试片A、测试片B,测试片A和测试片B相邻设置;第二测试片组包括测试片C、测试片D,测试片C和测试片D相邻设置;安装板A安装在测试限位板的一侧形成第一测试片组的收纳空间,安装板B安装在测试限位板的另一侧形成第二测试片组的收纳空间,第一测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第一测试片组的收纳空间内,第二测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第二测试片组的收纳空间内;测试限位板的上表面设置有测试座。本实用新型的有益效果是:实现迅速、稳定的测试动作。

技术领域

本实用新型涉及二极管加工技术领域,尤其涉及一种二极管电性测试结构。

背景技术

现有技术中,对于二极管触脚的电性测试,一般会将二极管放在测试台上,而二极管相对两侧的触脚分别与测试台上的2片测试片接触进行电性检测,这样的检测结构,长期存在检测结构不够精准的情况,为了提升电性检测的质量,亟待改进。

实用新型内容

基于此,本实用新型的目的在于提供一种二极管电性测试结构,实现迅速、稳定的测试动作。

本实用新型提供一种二极管电性测试结构,包括测试限位板、安装板A、安装板B、第一测试片组、第二测试片组;所述第一测试片组包括测试片A、测试片B,所述测试片A和所述测试片B相邻设置;所述第二测试片组包括测试片C、测试片D,所述测试片C和所述测试片D相邻设置;所述安装板A安装在所述测试限位板的一侧形成第一测试片组的收纳空间,所述安装板B安装在所述测试限位板的另一侧形成第二测试片组的收纳空间,所述第一测试片组与所述测试限位板弹性连接并且设置在所述第一测试片组的收纳空间内,所述第二测试片组与所述测试限位板弹性连接并且设置在所述第二测试片组的收纳空间内;所述测试限位板的上表面设置有测试座。

作为优选方案,所述测试限位板、安装板A、安装板B通过螺丝连接固定。

作为优选方案,所述测试限位板靠向所述第一测试片组的一侧设置有让位槽,所述让位槽内设置有分隔条将所述让位槽划分成两个区域,所述测试片A和所述测试片B分别对应设置在让位槽内;所述测试限位板靠向所述第二测试片组的一侧设置有让位槽,所述让位槽内设置有分隔条将所述让位槽划分成两个区域,所述测试片C和所述测试片D分别对应设置在让位槽内;各所述让位槽内均设置有限位凸柱,所述测试片A、测试片B、测试片C、测试片D与所述限位凸柱对应的位置均设置有条形孔,各所述条形孔内均设置有与所述限位凸柱接触的缓冲弹簧。

作为优选方案,所述测试片A、测试片B、测试片C、测试片D均设置为T形,所述测试片A的上部和所述测试片B的上部之间的距离小于二极管触脚的宽度,所述测试片C的上部和所述测试片D的上部之间的距离小于二极管触脚的宽度。

作为优选方案,所述测试座的上表面设置有与所述测试片A、测试片B、测试片C、测试片D位置对应的限位槽。

本实用新型的有益效果为:第一测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第一测试片组的收纳空间内,第二测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第二测试片组的收纳空间内,抓取结构将二极管吸附住后带动二极管向测试座的方向下压,二极管两侧的触脚分别与第一测试片组和第二测试片组接触,并且第一测试片组和第二测试片组分别产生一个向上的回弹作用力将触脚顶紧,从而实现迅速、稳定的测试动作。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为本实用新型的爆炸视图。

图3为本实用新型的正面视图(隐藏了安装板B后显示缓冲弹簧、限位凸柱)。

图4为本实用新型的俯视图。

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