[实用新型]老化测试设备及其加热组件

说明书

本实用新型公开一种老化测试设备及其加热组件，该加热组件包括控制板、发热件和传热件，控制板上设有控制线路；发热件与控制板电连接，发热件用于在控制板的控制下发热；传热件与发热件接触并能够与发热件进行热传导，传热件用于与待测芯片接触，以加热待测芯片。通过设置能够与发热件进行热传导的传热件，可以使用传热件抵接待测芯片以对待测芯片进行加热，相比于现有的高温老化测试设备，本申请中的加热组件可以很好的与现有的常温测试用底座兼容，故而，可以节约成本，并可以节约空间，同时也可以提升待测芯片的检测效率，并且本申请中的发热件的热量直接作用于待测芯片，热量的利用率高，且发热件所需的功率较小，可以极大得节省检测成本。

技术领域

本实用新型涉及高低温老化测试技术领域，具体涉及一种老化测试设备及其加热组件。

背景技术

电子产品，不管是原件、部件、整机、设备都要进行老化和测试。电子产品通过生产制造后，形成了完整的产品，已经可以发挥使用价值了，但使用以后会出现这样或那样的故障。根据统计结果，故障在电子产品生命周期内的分布可以用浴缸曲线表示，即，电子产品的故障大都出现在最初工作的一段时间之内。老化测试是加速电子产品渡过这段时期的重要手段。它的原理是通过对电子产品施加一定过应力(高温或者高电压)，使电子产品内的集成电路早期的一些故障，比如电子迁移，热载流子退化，氧化层薄弱点等能够尽快的显现出来，从而实现产品有效筛选。

目前，对电子产品进行老化检测的方式主要有两种：第一种是在恒温箱内加装部分元器件实现加热，将电子产品连同测试座同步放入恒温箱中进行加热，加热过程中进行测试，此种方式需要较大的机柜和发热功率；并且恒温箱传热时间过长，测试时间也无形中加长，恒温箱热量损失过大，传热效率不高，耗电量较大；恒温箱所处的外部环境温度会同步提升，影响整个车间的环境，影响员工工作环境。第二种是定制高温老化箱并定制用于测试的电路板，在电子产品加热的同时进行测试，此种方式定制的成本较高、检测周期长，定制高温老化箱损坏后维修成本高，一般只能报废；定制高温老化箱的常温测试和高温测试只能区分使用，自动化导入困难。

实用新型内容

本实用新型针对上述问题，提供一种老化测试设备及其加热组件，以解决老化测试设备热量利用率低且检测成本较高的技术问题。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：提供一种加热组件，所述加热组件包括：控制板，所述控制板上设有控制线路；发热件，与所述控制板电连接，所述发热件用于在所述控制板的控制下发热；以及传热件，与所述发热件接触并能够与所述发热件进行热传导，所述传热件用于与待测芯片接触，以加热所述待测芯片。

根据本实用新型一具体实施例，所述发热件包括发热芯片、发热板和发热陶瓷片，所述发热芯片与所述控制线路电连接，所述发热板上设有发热线路，所述发热线路将所述发热芯片与所述发热陶瓷片电连接，所述发热芯片用于在所述控制线路的作用下控制所述发热陶瓷片发热，所述发热陶瓷片设于所述发热板朝向所述传热件的一侧，与所述传热件接触并能够与所述传热件进行热传导。

根据本实用新型一具体实施例，所述传热件朝向所述发热陶瓷片的表面上设有容置槽，所述传热件与所述发热板连接，所述发热陶瓷片容置于所述容置槽内。

根据本实用新型一具体实施例，所述传热件开设所述容置槽的表面抵接于所述发热板，所述发热陶瓷片的至少部分侧壁抵接于所述容置槽的至少部分内壁。

根据本实用新型一具体实施例，所述加热组件还包括温度传感器，所述控制板与所述温度传感器电连接，所述温度传感器用于检测所述发热陶瓷片的温度并反馈至所述控制板，所述控制板上设有显示面板，所述显示面板与所述控制线路电连接，用于显示所述发热件的温度。

根据本实用新型一具体实施例，所述加热组件包括隔热盖，所述隔热盖的至少部分夹设于所述发热件和所述控制板之间。