[实用新型]校准装置、基站天线和通信组件有效
申请号: | 202020939603.9 | 申请日: | 2020-05-28 |
公开(公告)号: | CN211930640U | 公开(公告)日: | 2020-11-13 |
发明(设计)人: | 张讯;闻杭生 | 申请(专利权)人: | 康普技术有限责任公司 |
主分类号: | H04B17/11 | 分类号: | H04B17/11;H04B17/21;H01Q1/24;H01Q1/50;H01Q3/26 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 楼震炎 |
地址: | 美国北卡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 校准 装置 基站 天线 通信 组件 | ||
1.一种用于天线的校准装置,其特征在于,所述校准装置包括介质基板和印制在介质基板上的金属图案,所述金属图案包括校准电路的至少一部分,所述校准电路的第一部分设置在介质基板的第一主表面上,而所述校准电路的第二部分设置在该介质基板的与第一主表面对置的第二主表面上,所述校准电路的第一部分和/或第二部分构成为共面波导传输线。
2.根据权利要求1所述的校准装置,其特征在于,校准电路的第一部分至少包括射频端口和/或耦合器。
3.根据权利要求1所述的校准装置,其特征在于,校准电路的第二部分至少包括校准端口和/或功率组合器。
4.根据权利要求1所述的校准装置,其特征在于,校准电路的第一部分包括多个第一导电迹线,并且校准电路的第二部分包括多个第二导电迹线,并且所述金属图案还包括印制在至少一些第一导电迹线两侧的第一共面接地区域和印制在至少一些第二导电迹线两侧的第二共面接地区域。
5.根据权利要求4所述的校准装置,其特征在于,第一共面接地区域与第一导电迹线间隔开第一狭槽,在所述第一狭槽内敷金属被去除,并且第二共面接地区域与第二导电迹线间隔开第二狭槽,在所述第二狭槽内敷金属被去除。
6.根据权利要求4或5所述的校准装置,其特征在于,参照垂直于介质基板的第一主表面的方向,
所述校准电路的第一部分处于至少一部分第二共面接地区域的正上方,和/或
所述校准电路的第二部分处于至少一部分第一共面接地区域的正下方。
7.根据权利要求4或5所述的校准装置,其特征在于,所述校准电路的第一部分和/或所述校准电路的第二部分至少部分地构成为带有背敷金属的共面波导传输线。
8.根据权利要求5所述的校准装置,其特征在于,第一狭槽和第二狭槽的宽度处于0.1mm至1mm之间。
9.根据权利要求1所述的校准装置,其特征在于,校准电路的第一部分借助于第一导电结构与校准电路的第二部分电连接。
10.根据权利要求9所述的校准装置,其特征在于,第一导电结构包括过孔或金属导体。
11.根据权利要求4所述的校准装置,其特征在于,第一共面接地区域借助于第二导电结构与第二共面接地区域电连接。
12.根据权利要求11所述的校准装置,其特征在于,第二导电结构包括过孔或金属导体。
13.一种基站天线,其特征在于,所述基站天线包括反射体、校准装置和基板,在所述反射体的前侧安装有天线阵列,而在反射体的后侧安装有基板和校准装置,并且校准装置安装在基板上,其中,所述校准装置包括介质基板和印制在介质基板上的金属图案,所述金属图案包括校准电路的至少一部分,所述校准电路的第一部分设置在介质基板的第一主表面上,而所述校准电路的第二部分设置在该介质基板的与第一主表面对置的第二主表面上,所述校准电路的第一部分包括射频端口和耦合器。
14.根据权利要求13所述的基站天线,其特征在于,所述校准电路的第二部分包括校准端口和/或功率组合器。
15.根据权利要求14所述的基站天线,其特征在于,校准电路的第一部分借助于第一导电结构与校准电路的第二部分电连接。
16.根据权利要求15所述的基站天线,其特征在于,校准电路的第一部分的耦合器的输出端借助于第一导电结构与校准电路的第二部分的功率组合器的输入端电连接。
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