[实用新型]等离子体面壁部件原位诊断与缺陷修复系统有效

专利信息
申请号: 202020940559.3 申请日: 2020-05-29
公开(公告)号: CN213516886U 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 赵栋烨;才来中;胡万鹏;黄向玫 申请(专利权)人: 核工业西南物理研究院
主分类号: G01N21/73 分类号: G01N21/73;G01B11/24
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高安娜
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 等离子体 面壁 部件 原位 诊断 缺陷 修复 系统
【权利要求书】:

1.一种等离子体面壁部件原位诊断与缺陷修复系统,其特征在于,包括如下几部分:

激光模块,包括脉冲激光模块(301)和连续激光模块(302),负责提供不同脉宽的激光;

光谱采集模块,采集激光烧蚀等离子体发射光谱,用于分析PFCs表层元素成分;

激光束高反射镜(7)和石英窗口(9),用于实现光谱采集模块、壁形貌监控模块与聚变装置等离子体面壁部件(10)的光路传输;

壁形貌监控模块,监控PFCs表面形貌变化,标定原位PFCs修复位置;

所述的脉冲激光模块(301)发射脉冲激光束(303),经由激光束高反射镜(7)反射,通过嵌入在聚变装置真空腔室壁(8)上的石英窗口(9)后,辐照到等离子体面壁部件(10)表面发生烧蚀,被烧蚀粒子与聚变等离子体(11)相互作用形成激光烧蚀等离子体(12);激光烧蚀等离子体(12)经过石英窗口(9)后被激光束高反射镜(7)反射,通过光谱采集模块后被采集;

所述的激光束高反射镜(7)可以移出或者反馈光路;在进行诊断与修复时,激光束高反射镜(7)返回原光路;仅在壁形貌监控模块工作时,激光束高反射镜(7)被移出光路;

所述的连续激光模块(302)向壁形貌监控模块发出连续激光,连续激光束经过石英窗口(9)后照射到等离子体面壁部件(10)后反射,反射光经过石英窗口(9)再与壁形貌监控模块中的参考表面控制器(504)反射光形成干涉图样后被采集。

2.如权利要求1所述的一种等离子体面壁部件原位诊断与缺陷修复系统,其特征在于:所述的光谱采集模块包括二相色镜(401)、激光束聚焦透镜(402)、收集透镜(403)、传输光纤(404)和光谱仪(405);

所述的二相色镜(401)位于脉冲激光模块(301)的发射光路上,且镜面与光路方向夹角为45°;

所述的激光束聚焦透镜(402)位于二相色镜(401)反射光路上,且能够接收激光束高反射镜(7)的反射光线,反射光线经过二相色镜(401)透射;

所述的收集透镜(403)位于二相色镜(401)的透射光路上;

所述的传输光纤(404)将收集透镜(403)的透射光线耦合传输至光谱仪(405)中。

3.如权利要求1所述的一种等离子体面壁部件原位诊断与缺陷修复系统,其特征在于:所述的壁形貌监控模块包括凹面镜(501)、凸面镜(502)、分束装置、参考表面控制器(504)、聚焦透镜(505)、CCD或者CMOS相机(506);

所述的凹面镜(501)位于所述的连续激光模块(302)的发射光路上,将接收到的激光扩束;

所述的凸面镜(502)位于扩束光路上,对扩束光束准直;

所述的分束装置位于准直光路上,且上表面与准直光路的夹角为45°;

所述的分束装置将准直后的激光束分为两束,一束照射到参考表面控制器(504)成为参考光,另外一束通过石英窗口(9)后照射到等离子体面壁部件(10)上成为探测光;

所述的等离子体面壁部件(10)、参考表面控制器(504)参考光反射,形成两路反射光,分别经分束装置反射和透射后形成干涉图样;

所述的聚焦透镜(505)将干涉图样成像到CCD或CMOS相机(506)上。

4.如权利要求3所述的一种等离子体面壁部件原位诊断与缺陷修复系统,其特征在于:所述的分束装置为分束片(503)或者分束立方体。

5.如权利要求1所述的一种等离子体面壁部件原位诊断与缺陷修复系统,其特征在于:所述的脉冲激光模块(301)发射长脉冲激光的脉宽为1~500毫秒。

6.如权利要求1所述的一种等离子体面壁部件原位诊断与缺陷修复系统,其特征在于:所述的石英窗口(9)嵌入在聚变装置真空腔室壁(8)上。

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