[实用新型]一种用于检测复合材料的射线试块有效
| 申请号： | 202020958019.8 | 申请日： | 2020-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN212459468U | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 丁菊;袁奕雯;刘书宏;许金沙 | 申请（专利权）人： | 上海市特种设备监督检验技术研究院 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 徐俊 |
| 地址： | 200333 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 复合材料 射线 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于检测复合材料的射线试块，其特征在于，包括一层覆层试块和多层基层试块和通用槽型对比试块，覆层试块和基层试块由不同的材料组成，覆层试块设置在基层试块的上部，通过槽型对比试块可以根据射线检测的需要设置在覆层试块上部或者基层试块的上部和下部。
2.如权利要求1所述的一种用于检测复合材料的射线试块，其特征在于，根据射线检测材料的不同，可以在覆层或者基层上雕刻深度为0.3mm 0.5mm 1,0mm1.5mm的台阶面。
3.如权利要求1所述的一种用于检测复合材料的射线试块，其特征在于，基层试块有多个，可以在不同高度的基层试块上雕刻深度为0.3mm 0.5mm 1,0mm 1.5mm的台阶面。
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