[实用新型]一种热电材料的XRD原位测试装置

权利要求书

1.一种热电材料的XRD原位测试装置，其特征在于，包括为待测样品提供温差条件的温差池、固定所述温差池的中空载台、设置于所述载台一侧的接头，所述接头用于连接外部控制器；所述载台一端固定所述温差池，另一端设置有连接柱，用于将整个测试装置连接至同步辐射光源衍射线站上；

所述温差池主要由池体、固定于所述池体上的冷端和热端组成，所述冷端与所述热端通过隔热材料隔离开来，并分别配有用于测量其温度的温度传感器，所述冷端通过制冷元件降温，所述热端通过加热元件升温；所述制冷元件及其温度传感器、所述加热元件及其温度传感器的外部接线均连接至所述接头接口；所述加热元件和所述制冷元件通过外部控制器实现温差调节。

2.根据权利要求1所述的热电材料的XRD原位测试装置，其特征在于，所述池体采用无氧铜制成，对应所述热端一侧设有容置所述热端的凹槽，所述热端置入所述凹槽内，所述热端与所述池体之间设有热端隔热层。

3.根据权利要求2所述的热电材料的XRD原位测试装置，其特征在于，所述凹槽局部向下延伸形成连通所述凹槽和所述载台的内部通槽。

4.根据权利要求3所述的热电材料的XRD原位测试装置，其特征在于，所述池体对应所述冷端一侧设有贯穿所述池体的水冷散热通道，用于所述制冷元件的降温。

5.根据权利要求2-4任意一项所述的热电材料的XRD原位测试装置，其特征在于，所以温差池上方固定有样品座，所述样品座由隔热材料制成，其上分别设有供待测样品接触所述冷端和所述热端的第一通槽和第二通槽。

6.根据权利要求5所述的热电材料的XRD原位测试装置，其特征在于，所述样品座向下设有伸入所述凹槽的卡紧件，所述热端隔热层和所述热端直接通过所述样品座固定于所述凹槽内。

7.根据权利要求5所述的热电材料的XRD原位测试装置，其特征在于，所述样品座上设有四个用于安装PCB板的PCB板固定槽，且分别与所述第一通槽和所述第二通槽连通，所述PCB板用于采集热电材料电学性能测试数据，进行电学性能测试。

8.根据权利要求1所述的热电材料的XRD原位测试装置，其特征在于，所述池体对称向上设有密封膜固定架，用于包裹聚四氟乙烯薄膜。

9.根据权利要求8所述的热电材料的XRD原位测试装置，其特征在于，所述池体对应所述热端一侧设有气体通道，气体从所述池体一侧通入聚四氟乙烯薄膜形成的密封空间内，再从所述池体的另一侧流出。