[实用新型]一种低电阻测试结构有效

专利信息
申请号: 202021047097.9 申请日: 2020-06-09
公开(公告)号: CN212622699U 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 张利荣;陈建保;杨娟 申请(专利权)人: 鸿硕精密电工(苏州)有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/00
代理公司: 苏州名飞扬知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32290 代理人: 杨林
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 电阻 测试 结构
【权利要求书】:

1.一种低电阻测试结构,其特征在于:包括基座板(1)和垂直固定于所述基座板(1)上的立板(2),所述立板(2)的正面固定有下压气缸(3),所述下压气缸(3)的输出端作用于压板(4),所述压板(4)两端均通过导向柱(41)滑动设有上高导电金属块(5),且所述上高导电金属块(5)与所述压板(4)之间设有簧柱(7),所述基座板(1)上在所述压板(4)下侧设有固定座(6),所述固定座(6)上与所述上高导电金属块(5)对应的设有下高导电金属块(8),用于设置待测式产品。

2.根据权利要求1所述一种低电阻测试结构,其特征在于:所述上高导电金属块(5)设有凸部(51),所述下高导电金属块(8)与所述凸部(51)对应的设有凹部(81)。

3.根据权利要求1所述一种低电阻测试结构,其特征在于:所述下高导电金属块(8)通过所述固定座(6)两侧的锁紧螺栓(61)与所述固定座(6)可拆卸连接。

4.根据权利要求1所述一种低电阻测试结构,其特征在于:所述立板(2)在背面双侧还设有三角撑板(21)。

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