[实用新型]太阳能电池片的测试装置有效
申请号: | 202021064627.0 | 申请日: | 2020-06-11 |
公开(公告)号: | CN211907387U | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | 董志良;刘晓兵;沈柔泰;赵福祥 | 申请(专利权)人: | 韩华新能源(启东)有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H02S50/10 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 俞春雷 |
地址: | 226200 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳能电池 测试 装置 | ||
本实用新型公开了一种太阳能电池片的测试装置,包括底框、导电薄膜以及用于将所述导电薄膜固定在所述底框上的压条,所述底框上形成有用于容纳太阳能电池片的测试空间,所述导电薄膜覆盖所述测试空间。本实用新型的太阳能电池片的测试装置,通过在底框上用压条固定有导电薄膜,使导电薄膜替代探针与电池片的主栅进行接触,从而实现对电池片的测试。由于导电薄膜为一个平面,能够适用于多主栅电池片,且导电薄膜与主栅之间为柔性接触,相对于现有技术中的探针与主栅的刚性接触更能保护电池片,避免电池片的隐裂及碎片;且主栅高于电池片,导电薄膜先与主栅接触,不会出现部分主栅没有接触到导致的测量结果不准确的问题。
技术领域
本实用新型属于光伏生产制造及测试检验技术领域,具体涉及一种太阳能电池片的测试装置。
背景技术
纵观光伏市场发展,随着高效电池片技术的逐步成熟,成本的逐步下降,产品市场需求将继续扩大,市场占比将逐步提升。同时也伴随着各种高效电池片的脱颖而出,例如:PERC技术、HIT技术、多主栅技术等等。尤其是多主栅技术目前在许多光伏企业中逐渐被应用,在带来电池片功率提升的同时,测试的准确性对测试结果的重要程度也引人关注。
目前电池片测试过程中存在以下的缺点:1.不论是产线还是实验室中,电池片采用的都是3-5条探针按压式的方法进行电性能测试,但对于拥有9-15条主栅的多主栅技术电池片来说,这样的测试方法显然并不适用;2.探针在按压过程中,电池片受力可能不均匀,会导致电池片隐裂;3.探针在按压过程中,如若探针异常无法及时压缩,会导致电池片碎片;4.测试不同主栅数量的电池片时,为保障测试精确性,必须更换相应数量的探针排,操作工序复杂;5.探针排更换后,可能造成部分探针排未能更换至电极的准确位置,导致测试结果出现误差,测试结果准确率差。
发明内容
有鉴于此,为了克服现有技术的缺陷,本实用新型的目的是提供一种改进的太阳能电池片的测试装置,其能够解决现有光伏电池片在测试过程中,电池片因探针下压导致的隐裂及碎片,并且解决因更换探针导致电池片电性能测试出现误差等问题。
为了达到上述目的,本实用新型采用以下的技术方案:
一种太阳能电池片的测试装置,包括底框、导电薄膜以及用于将所述导电薄膜固定在所述底框上的压条,所述底框上形成有用于容纳太阳能电池片的测试空间,所述导电薄膜覆盖所述测试空间。
通过在底框上用压条固定有导电薄膜,使导电薄膜替代探针与电池片的主栅进行接触,从而实现对电池片的测试。由于导电薄膜为一个平面,能够适用于多主栅电池片,且导电薄膜与主栅之间为柔性接触,相对于现有技术中的探针与主栅的刚性接触更能保护电池片,避免电池片的隐裂及碎片;且主栅高于电池片,导电薄膜先与主栅接触,不会出现部分主栅没有接触到导致的测量结果不准确的问题。
优选地,所述测试装置包括用于调节所述导电薄膜张力的张力调节机构,所述张力调节机构包括滑动设置在所述底框上的调节块以及用于调节所述调节块在所述底框上位置的调节旋钮,所述导电薄膜的至少一边固定在所述调节块上。通过张力调节机构可以实现对导电薄膜的张力进行调整,使其适用于不同规格的电池片。调节旋钮与调节块之间螺纹连接,通过旋转调节旋钮实现调节块的移动。
更加优选地,所述底框包括由四根分框首尾连接形成的矩形框,所述底框中的至少一个分框上固定有所述压条,所述底框的剩余分框上设置有所述张力调节机构。四根分框连接后形成测试空间,测试时,将电池片放置在测试空间内进行测试。
进一步优选地,所述底框中相邻的两个分框上固定有所述压条,与所述压条相对的两个分框上设置有所述张力调节机构。通过将导电薄膜的两边完全固定,相对的另外两边固定在调节块上,能够实现对导电薄膜的两个方向的张力的调节。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于韩华新能源(启东)有限公司,未经韩华新能源(启东)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202021064627.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种制冷系统用的电控箱结构
- 下一篇:太阳能电池片的测试设备
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造