[实用新型]一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统

说明书

本实用新型公开了一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统，包括水平支架，水平支架上设置有水平轨道，水平轨道上安装有可沿其水平移动的水平托盘；水平托盘上安装有一维方位转台，一维方位转台上设置有竖直支架；竖直支架上安装有升降机构，升降机构包括升降带，升降带上安装有用于安装微波信号接收装置的安装台；本实用新型通过水平托盘可带动微波信号接收装置在同一水平面上横向移动，通过一维方位转台可实现微波信号接收装置的方位旋转，通过升降机构可以实现微波信号接收装置高度的调节，进而可以实现微波信号接收装置在微波暗室空间内不同位置处接收微波信号，提升微波暗室的检测效率。

技术领域

本实用新型属于微波测量技术领域，具体涉及一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统。

背景技术

微波暗室是采用吸波材料和金属屏蔽体组建的特殊房间，其作用就是避免在暗室内做天线、雷达等无线通讯产品时受到杂波干扰，提高被测的精准度和效率，以实现对天线辐射特性的测量。在微波暗室中，当电磁波入射到墙面、天棚、地面时，绝大部分电磁波被吸收，而透射、反射极少。

建设微波暗室后能否满足使用条件，需要对微波暗室的反射、交叉极化、场均匀性等指标进行检测。现有的检测装置一般是在微波暗室中分别放置信号发射装置和接收装置，发射装置固定在一处，接收装置在一个位置接收信号后，人工调节其高度和/或位置，再继续信号的接收，最后整合所有信号数据，以实现对微波暗室的全面检测。

微波暗室检测时，接收装置需要对暗室内的绝大部分位置进行信号接收才能得到精确的检测结果，但是，频繁的人工调节接收装置的位置和/或高度，会大大增加检测时间。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统，以实现微波信号接收装置位置和高度的自动调节，降低微波暗室的检测时间。

本实用新型采用以下技术方案：一种微波暗室场地性能检测用调节支架，包括水平支架，水平支架上设置有水平轨道，水平轨道上安装有可沿其水平移动的水平托盘；

水平托盘上安装有一维方位转台，一维方位转台上设置有竖直支架；

竖直支架上安装有升降机构，升降机构包括升降带，升降带上安装有用于安装微波信号接收装置的安装台；

水平托盘、一维方位转台和升降机构分别用于实现微波信号接收装置的位置、方位和高度的调节。

进一步地，水平轨道的一侧设置有齿条；

水平托盘上设置有电机，电机的动力输出端设置有与齿条啮合的齿轮；电机用于带动齿轮转动，进而带动水平托盘沿水平轨道滑动。

进一步地，升降机构包括设置在竖直支架上的蜗轮蜗杆减速机，蜗轮蜗杆减速机的动力输入端连接有手把、动力输出端与升降带连接。

进一步地，安装台的一侧端设置有可竖向转动的连接板，连接板的自由端设置有极化机构。

进一步地，当水平支架的数量大于等于2个时，相邻两个水平支架之间设置有夹板，夹板分别贴合在相邻的水平支架上。

进一步地，相邻2个水平支架之间还通过直杆件连接。

进一步地，水平托盘的下方设置有与水平轨道相适配的滑块。

进一步地，水平轨道上还安装有托架，托架上还设置有拖链，拖链的端部固定连接至水平托盘上。

进一步地，水平托盘的两侧均设置有行程开关。

本实用新型的另一种技术方案：一种微波暗室场地性能检测系统，检测系统包括上述的一种微波暗室场地性能检测用调节支架。