[实用新型]一种半导体陶瓷电容器击穿电压的测试夹具有效
申请号: | 202021115471.4 | 申请日: | 2020-06-16 |
公开(公告)号: | CN212459936U | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 蒋小明 | 申请(专利权)人: | 陕西华星电子开发有限公司 |
主分类号: | G01R31/16 | 分类号: | G01R31/16;G01R1/04 |
代理公司: | 西安泛想力专利代理事务所(普通合伙) 61260 | 代理人: | 石琳丹 |
地址: | 712034 陕西省西安市西咸新区*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 陶瓷 电容器 击穿 电压 测试 夹具 | ||
本实用新型公开了一种半导体陶瓷电容器击穿电压的测试夹具,属于电子陶瓷技术领域。该测试夹具包括:多个测试针、导电板、固定板和波段开关;固定板连接在导电板上;测试针均活动连接在固定板上;测试针均通过连接导线与波段开关的不同档位连接。在本实用新型中,设置多个测试针、导电板、固定板和波段开关,将多个半导体陶瓷电容器银片夹在不同的测试针与导电板之间,通过击穿电压测试仪可以一次测试多个产品,并且也可以检测不带引线的半导体陶瓷电容器银片,从而提高了检测效率。
技术领域
本实用新型涉及电子陶瓷技术领域,特别涉及一种半导体陶瓷电容器击穿电压的测试夹具。
背景技术
在小型电脑、移动通信等设备日益轻、薄、短、小,高性能,多功能化的过程中,半导体陶瓷电容器则具有其特殊的重要性。陶瓷电容器有一项很重要的技术指标叫击穿电压,击穿电压是衡量陶瓷电容器性能的重要参数,测试方法就是将耐压测试仪输出端与陶瓷电容器两个电极相连接,按照一定的升压速率升高电压,记录陶瓷电容器将在多少伏低电压下被击穿失效。
但是现有技术的击穿电压测试仪往往在只附带两条输出电源线,每次也只能测试一只产品,而且不能测试不带引线的陶瓷电容器银片,从而测试效率太低。
实用新型内容
为了提高对半导体陶瓷电容器的测试效率,本实用新型提供了一种半导体陶瓷电容器击穿电压的测试夹具。所述测试夹具包括:多个测试针、导电板、固定板和波段开关;所述固定板连接在所述导电板上;所述测试针均活动连接在所述固定板上;所述测试针均通过连接导线与所述波段开关的不同档位连接。
进一步地,所述测试夹具还包括油盒,所述油盒内装有绝缘油;所述导电板放置在所述油盒中。
进一步地,所述导电板为铜导电板。
进一步地,所述固定板为绝缘固定板。
进一步地,所述导电板与所述固定板通过紧固螺丝连接。
进一步地,所述导电板与所述固定板之间的所述紧固螺丝上设置有绝缘座。
进一步地,所述导电板为滚花导电板。
进一步地,所述测试针均为P125-Q1型测试针。
进一步地,所述波段开关的档位与所述测试针的个数相同。
本实用新型提供的技术方案的有益效果是:在本实用新型中,设置多个测试针、导电板、固定板和波段开关,将多个半导体陶瓷电容器银片夹在不同的测试针与导电板之间,通过击穿电压测试仪可以一次测试多个产品,并且也可以测试不带引线的半导体陶瓷电容器银片,从而提高了检测效率。另外,本实用新型中,设置有绝缘油、绝缘固定板和绝缘座,从而提高了该夹具的绝缘强度。
附图说明
图1是本实用新型提供的一种半导体陶瓷电容器击穿电压的测试夹具的结构示意图。
附图标记:1-测试针;2-导电板;3-固定板;4-波段开关;5-连接导线;6- 油盒;7-绝缘油;8-紧固螺丝;9-绝缘座;10-半导体陶瓷电容器银片;11-击穿电压测试仪输出端。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型实施方式作进一步地详细描述。
需要说明的是,当一个组件被认为是“连接”另一个组件,它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件,它可以是直接设置在另一个组件上,或者可能同时存在居中组件。本实用新型所使用的的术语“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明目的。
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