[实用新型]一种光源反光占牌有效

专利信息
申请号: 202021144205.4 申请日: 2020-06-18
公开(公告)号: CN212030540U 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 李俊峰;周静;魏强 申请(专利权)人: 睿宇时空科技(重庆)有限公司
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00
代理公司: 重庆信航知识产权代理有限公司 50218 代理人: 穆祥维
地址: 408400 重庆市南川区西城街道*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 光源 反光
【说明书】:

本实用新型提供一种光源反光占牌,包括占牌本体,占牌本体左右两侧表面对称设有第一反光层和第二反光层,第一反光层和第二反光层的水平中心轴线与设于占牌本体中空方形内的棱镜水平中心轴线对准,占牌本体上侧表面设有第三反光层,第三反光层的竖直中心轴线与棱镜竖直中心轴线对准,占牌本体下侧边中间固定有支持柱,支持柱下端连接有基座,基座上设有适于照射第一反光层和第三反光层的第一发射光源,以及适于照射第二反光层和第三反光层的第二发射光源,第一发射光源和第二发射光源关于棱镜竖直中心轴线对称设置。本申请通过发射光源照射占牌本体上的反光层来增强反光作用,以用于光线不好的地方快速找到棱镜,提升恶劣环境测量的适应性。

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域,具体涉及一种光源反光占牌。

背景技术

在测绘领域中,全站仪是使用比较广泛的测量仪器,但全站仪在使用过程中需要配合具有棱镜的反光占牌共同使用。现有的全站仪反光占牌在使用过程中,只需把反光占牌和棱镜固定到一起,调整反光占牌与棱镜中心线重合后安装到基座上,调平对中后对准全站仪,接着用强光照准反光占牌来找到对准棱镜,然后通过全站仪观测棱镜来实现测量。而本实用新型的发明人经过实践研究发现,目前全站仪观测棱镜时虽然有强光来照准反光占牌,但是在夜间、隧道或光线不好的地方使用时,由于反光占牌本身不发光,不能很好快速地找到棱镜,费时费力的同时还容易造成测量偏差,因而现有反光占牌对于恶劣环境测量的适应性较差。

实用新型内容

针对现有反光占牌在夜间、隧道或光线不好的地方使用时,由于反光占牌本身不发光,不能很好快速地通过全站仪找到棱镜,费时费力的同时还容易造成测量偏差,因而现有反光占牌对于恶劣环境测量适应性较差的技术问题,本实用新型提供一种光源反光占牌。

为了解决上述技术问题,本实用新型采用了如下的技术方案:

一种光源反光占牌,包括中空方形结构的占牌本体,所述占牌本体的左右两侧表面分别对称设有第一反光层和第二反光层,所述第一反光层和第二反光层的水平中心轴线与设于占牌本体中空方形内的棱镜水平中心轴线对准,所述占牌本体的上侧表面设有第三反光层,所述第三反光层的竖直中心轴线与设于占牌本体中空方形内的棱镜竖直中心轴线对准,所述占牌本体的下侧边中间固定连接有支持柱,所述支持柱的下端固定连接有基座,所述基座上设有适于照射第一反光层和第三反光层的第一发射光源,以及适于照射第二反光层和第三反光层的第二发射光源,所述第一发射光源和第二发射光源关于棱镜竖直中心轴线对称设置,所述基座内部设有给第一发射光源和第二发射光源供电的电池。

与现有技术相比,本实用新型提供的光源反光占牌,通过在占牌本体的左右上侧表面对应设置第一反光层、第二反光层和第三反光层,并在安装反光占牌和棱镜的基座上设置第一发射光源和第二发射光源,由此在具体使用时,可通过第一发射光源发射的光线照射至第一反光层和第三反光层,以及通过第二发射光源发射的光线照射至第二反光层和第三反光层,使其在光线不足时增强反光作用,以用于光占牌在夜间、隧道或光线不好的地方,能够通过与棱镜水平中心轴线对准的第一反光层和第二反光层以及与棱镜竖直中心轴线对准的第三反光层快速找到棱镜,省时省力的同时还提高了测量精度,因而有效提升了本申请反光占牌在恶劣环境测量的适应性。

进一步,所述第一反光层、第二反光层和第三反光层为涂覆于占牌本体表面的反光材料。

进一步,所述第一反光层、第二反光层和第三反光层为粘贴于占牌本体表面的反光薄膜。

进一步,所述第一反光层、第二反光层和第三反光层的形状为梯形,所述梯形的上底靠近占牌本体中空方形内的棱镜,所述梯形的下底靠近占牌本体的外侧边缘。

进一步,所述第一发射光源和第二发射光源为发光二极管。

附图说明

图1是本实用新型提供的光源反光占牌结构示意图。

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