[实用新型]一种用于考核电子元器件的测试盒底壳有效

专利信息
申请号: 202021167904.0 申请日: 2020-06-22
公开(公告)号: CN212568880U 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 费冬冬 申请(专利权)人: 上海屹讯电子科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;H05K5/02;H05K7/20
代理公司: 上海世圆知识产权代理有限公司 31320 代理人: 陈颖洁;王佳妮
地址: 201701 上海市青浦区外*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 考核 电子元器件 测试 盒底壳
【权利要求书】:

1.一种用于考核电子元器件的测试盒底壳,包括测试盒底壳(1),其特征在于,所述测试盒底壳(1)的上端面固定设置有若干个均匀分布的连接块(2),所述连接块(2)上开设有第一连接孔(201),每两个所述连接块(2)之间形成有防尘透气槽(3),所述防尘透气槽(3)上开设有第一防尘板槽(301);

所述第一防尘板槽(301)上设置有防尘透气件(4),所述防尘透气件(4)上固定设置有对称分布的防尘安装板(401),所述防尘安装板(401)之间固定设置有支撑块(402),所述支撑块(402)的中部开设有防尘网槽(403),所述防尘网槽(403)上固定在有防尘透气网(8);

所述防尘透气件(4)的上方固定设置有面板(5),所述面板(5)上开设有均匀分布的第二连接孔(501),所述第二连接孔(501)上设置有固定螺栓(6),所述固定螺栓(6)贯穿所述第二连接孔(501)并与所述第一连接孔(201)配合使用,所述面板(5)上开设有若干个均匀分布的引脚孔(502),所述引脚孔(502)上固定设置有铜柱(7)。

2.根据权利要求1所述的一种用于考核电子元器件的测试盒底壳,其特征在于:所述铜柱(7)凸出于所述面板(5),所述铜柱(7)与内部元件电性连接。

3.根据权利要求1所述的一种用于考核电子元器件的测试盒底壳,其特征在于:所述测试盒底壳(1)的底部固定设置有防滑垫(101)。

4.根据权利要求1所述的一种用于考核电子元器件的测试盒底壳,其特征在于:所述防尘透气网(8)为高分子网状结构的防尘透气膜。

5.根据权利要求1所述的一种用于考核电子元器件的测试盒底壳,其特征在于:所述面板(5)的底侧面开设有第二防尘板槽(503),所述第二防尘板槽(503)与所述防尘安装板(401)配合使用。

6.根据权利要求5所述的一种用于考核电子元器件的测试盒底壳,其特征在于:所述防尘透气件(4)为工字型结构,所述防尘透气件(4)上的防尘安装板(401)与所述第二防尘板槽(503)固定连接,所述防尘透气件(4)下端的防尘安装板(401)与所述第一防尘板槽(301)固定连接。

7.根据权利要求1所述的一种用于考核电子元器件的测试盒底壳,其特征在于:所述测试盒底壳(1)的内部形成有测试盒底壳内仓(9),所述测试盒底壳内仓(9)上固定设置有RFID标签。

8.根据权利要求1所述的一种用于考核电子元器件的测试盒底壳,其特征在于:所述固定螺栓(6)与所述面板(5)的连接处固定设置有金属垫片(601)。

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