[实用新型]一种X射线传感器自校正装置及X射线传感器有效

专利信息
申请号: 202021182250.9 申请日: 2020-06-23
公开(公告)号: CN212622054U 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 杨帆;周志辉;杨克中 申请(专利权)人: 凯多智能科技(上海)有限公司
主分类号: G01N9/24 分类号: G01N9/24;G01B15/02
代理公司: 上海领洋专利代理事务所(普通合伙) 31292 代理人: 罗晓鹏
地址: 201401 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 射线 传感器 校正 装置
【说明书】:

实用新型涉及一种X射线传感器自校正装置及X射线传感器,属于传感器设备技术领域,包括射线管和安装板,射线管包括射线管本体和凸出结构,凸出结构上设有射线口,安装板套设在凸出结构的外圈,并设有可转动至射线口的校正支架,校正支架上设有与射线口相适配的麦拉片,正常检测时,转动校正支架将校正支架从射线口移开,当需要校正时,再次转动校正支架,将麦拉片对准射线口,即可直接进行校正,校正方便,大大提高了片材的检测效率,同时还节约了另外安装麦拉片所占用的检测空间。

技术领域

本实用新型涉及传感器设备技术领域,特别涉及一种X射线传感器自校正装置及含有这种X射线传感器自校正装置的X射线传感器。

背景技术

目前,一些片材,尤其是高精尖产品,包括电池极片、轮胎橡胶帘子布以及钢丝带、薄膜等,在生产过程中,需要严格确保其厚度的尺寸精度,才能使其具备较高的、稳定的品质。因此,在生产过程中需要经常对其厚度或密度进行检测。

考虑到X射线测量的稳定性以及可关闭性,很多公司选择利用X射线对片材的密度或厚度进行测量,其测量原理是基于射线投射的过程,一般由射线发射源和射线探测器成组配置,待测片材放置在中间,射线穿透被测片材后,辐射随之减弱,辐射量的衰减取决于被测片材的密度、厚度和成分,吸收系数取决于射线的类型和待测片材的成分。

受到周边使用环境以及长期使用带来自身衰减的影响,X射线传感器在使用过程中需要经常校正其精确度,一般情况下是通过麦拉片进行校正。因此,在安装X射线传感器的机器附近也会另外安装麦拉片,每使用一段时间,就将X射线传感器移动至麦拉片处进行校正。如此一来,不仅会占用有限的检测空间,另外还会大大影响正常的检测效率。

实用新型内容

为了克服现有技术的缺陷,本实用新型提供了一种X射线传感器自校正装置,通过在射线管凸出结构的外圈套设安装板,并在安装板上设置可向射线口转动的校正支架,校正支架上安装有正对射线口的麦拉片,转动校正支架,即可对X射线进行校正,校正方便,并节约检测空间。

实现上述目的的技术方案是:

本实用新型提供一种X射线传感器自校正装置,其包括射线管,所述射线管包括射线管本体和一体设于所述射线管本体一侧的凸出结构,所述凸出结构的顶部设有射线口,所述射线管本体被包裹有散热块;

还包括安装板,所述安装板套设于所述凸出结构的外圈,所述安装板远离所述射线管本体的一侧设有至少一个可转动至所述射线口的校正支架,所述校正支架安装有与所述射线口相适配的麦拉片,正常进行检测工作时,转动校正支架,将校正支架移开,当需要校正时,再次转动校正支架,使麦拉片对准射线口,即可进行校正,从而有效节约安装麦拉片的空间,校正方便,大大提高了检测的效率。

进一步地,所述校正支架是两个,两个所述校正支架所安装的麦拉片的厚度尺寸互不相同,适用于不同规格的校正。

进一步地,所述安装板靠近所述射线管本体的一侧安装有带动所述校正支架转动的旋转气缸,所述旋转气缸电连接有电磁阀,所述电磁阀电连接有PLC控制系统或工控机,通过PLC控制系统或工控机控制电磁阀工作,进而通过电磁阀控制旋转气缸工作,带动校正支架旋转。

本申请还提供了一种X射线传感器,包括箱体,所述箱体设有开口,所述箱体内安装有如前所述的X射线传感器自校正装置,所述射线管的射线口正对所述箱体的开口。

有益效果:同现有技术相比,本实用新型的不同之处在于,本实用新型提供的X射线传感器自校正装置及X射线传感器,包括射线管和安装板,射线管包括射线管本体和凸出结构,凸出结构上设有射线口,安装板套设在凸出结构的外圈,并设有可转动至射线口的校正支架,校正支架上设有与射线口相适配的麦拉片,使用X射线正常检测片材的厚度或密度时,转动校正支架将校正支架从射线口移开,当需要校正时,再次转动校正支架,将麦拉片对准射线口,即可直接进行校正,校正方便,大大提高了片材的检测效率,同时还节约了另外安装麦拉片所占用的检测空间。

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