[实用新型]介质滤波器耦合结构、介质滤波器及通信基站有效
申请号: | 202021183437.0 | 申请日: | 2020-06-23 |
公开(公告)号: | CN212874715U | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 周国明 | 申请(专利权)人: | 大富科技(安徽)股份有限公司 |
主分类号: | H01P1/212 | 分类号: | H01P1/212;H01P1/20;H01P1/208 |
代理公司: | 深圳市睿智专利事务所 44209 | 代理人: | 郭文姬 |
地址: | 233000 安徽省蚌埠*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 介质 滤波器 耦合 结构 通信 基站 | ||
1.一种介质滤波器耦合结构,包括由介电材料制成的本体和设置在该本体表面的至少一对介质谐振器,在一对介质谐振器的第一介质谐振器和第二介质谐振器之间设置有穿越本体的通孔,其特征在于:所述第一介质谐振器和第二介质谐振器分别位于本体的上表面和下表面,第一耦合槽将第一介质谐振器和通孔相连,第二耦合槽将第二介质谐振器和通孔相连,第一介质谐振器和第二介质谐振器之间通过耦合槽和通孔相连实现容性耦合。
2.根据权利要求1所述的介质滤波器耦合结构,其特征在于:所述通孔设置在本体的中心。
3.根据权利要求1所述的介质滤波器耦合结构,其特征在于:所述通孔设置在偏离本体中心位置,通过调节以下至少一个参数来调节耦合量:耦合槽高度、耦合槽宽度、耦合窗口大小或者介质谐振器之间的距离。
4.根据权利要求1所述的介质滤波器耦合结构,其特征在于:所述通孔为圆柱形,第一耦合槽和第二耦合槽为方柱形。
5.根据权利要求1所述的介质滤波器耦合结构,其特征在于:在本体的下表面,对应位于本体上表面的第一介质谐振器设置有调试盲孔,和/或在本体的上表面,对应位于本体下表面的第二谐振器设置有调试盲孔,所述调试盲孔与所述介质谐振器同轴设置。
6.根据权利要求5所述的介质滤波器耦合结构,其特征在于:所述调试盲孔为圆形、多边形或者椭圆形。
7.根据权利要求5所述的介质滤波器耦合结构,其特征在于:通过去除调试盲孔的部分导电层来调节相应的介质谐振器的频率。
8.根据权利要求1所述的介质滤波器耦合结构,其特征在于:所述耦合槽深度小于介质谐振器的深度。
9.一种介质滤波器,其特征在于:包括如权利要求1至8任意一项所述的介质滤波器耦合结构。
10.一种通信基站,其特征在于:包括如权利要求1至8任意一项所述的介质滤波器耦合结构。
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