[实用新型]一种防止晶圆污染的光刻胶收集结构有效
申请号: | 202021185969.8 | 申请日: | 2020-06-23 |
公开(公告)号: | CN212846349U | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 许志雄 | 申请(专利权)人: | 芯米(厦门)半导体设备有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F7/16 |
代理公司: | 厦门仕诚联合知识产权代理事务所(普通合伙) 35227 | 代理人: | 吴圳添 |
地址: | 361000 福建省厦门市火炬*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 防止 污染 光刻 收集 结构 | ||
1.一种防止晶圆污染的光刻胶收集结构,包括收集斗(1)、支撑脚(2)、出料口(3)、控制按钮(4)和电源线(5),所述收集斗(1)底端四角固定有支撑脚(2),且收集斗(1)底面中部开设有出料口(3),所述出料口(3)左侧中部设置有控制按钮(4),且出料口(3)前端左侧安装有电源线(5);
其特征在于:还包括开合机构(6),所述开合机构(6)设置于出料口(3)底部。
2.根据权利要求1所述的一种防止晶圆污染的光刻胶收集结构,其特征在于:所述开合机构(6)包括滑道(61)、滑轮(62)、第一挡板(63)、第二挡板(64)、合页(65)和驱动元件(66),所述滑道(61)横向开设于出料口(3)底面前后两端,且滑道(61)与滑轮(62)表面滚动连接,所述第一挡板(63)设置于出料口(3)底部左侧,且第一挡板(63)前后两面左侧与滑轮(62)内侧相连接,所述第二挡板(64)设置于出料口(3)底部右侧,且第二挡板(64)左侧通过合页(65)与第一挡板(63)右侧相连接,所述驱动元件(66)设置于出料口(3)右侧。
3.根据权利要求2所述的一种防止晶圆污染的光刻胶收集结构,其特征在于:所述驱动元件(66)由连接板(661)、连接块(662)、支撑板(663)、支撑块(664)、连接轴(665)、固定座(666)、汽缸(667)、连接件(668)和连接条(669)组成,所述连接板(661)左侧与第二挡板(64)右侧前后两端固定连接,且连接板(661)顶面中部焊接有连接块(662),所述支撑板(663)固定于出料口(3)右侧底部前后两端,且支撑板(663)底面中部固定有支撑块(664),所述连接轴(665)前后两端贯穿连接块(662)顶部与支撑块(664)内侧中部相连接。
4.根据权利要求3所述的一种防止晶圆污染的光刻胶收集结构,其特征在于:所述固定座(666)固定于出料口(3)右侧顶端,且固定座(666)底部与汽缸(667)顶部固定连接,所述连接件(668)与汽缸(667)顶端中部相连接,且连接件(668)底端中部通过转轴与连接条(669)底端中部转动连接,所述汽缸(667)和控制按钮(4)均与电源线(5)电连接,所述汽缸(667)与控制按钮(4)电连接。
5.根据权利要求4所述的一种防止晶圆污染的光刻胶收集结构,其特征在于:所述连接条(669)底端中部开设有通孔,且通孔内壁与连接轴(665)外壁中部固定连接。
6.根据权利要求2所述的一种防止晶圆污染的光刻胶收集结构,其特征在于:所述第一挡板(63)和第二挡板(64)尺寸、结构均相同,且第一挡板(63)和第二挡板(64)顶面外侧均贴合有橡胶密封层。
7.根据权利要求2所述的一种防止晶圆污染的光刻胶收集结构,其特征在于:所述滑轮(62)呈圆柱状,且滑轮(62)表面呈光滑状态。
8.根据权利要求3所述的一种防止晶圆污染的光刻胶收集结构,其特征在于:所述汽缸(667)可伸缩的最大距离为3cm,且滑轮(62)可滚动的最大距离为10cm。
9.根据权利要求2所述的一种防止晶圆污染的光刻胶收集结构,其特征在于:所述合页(65)安装于第一挡板(63)和第二挡板(64)内侧前后两端,且第一挡板(63)和第二挡板(64)内侧面均贴合有橡胶密封层。
10.根据权利要求2所述的一种防止晶圆污染的光刻胶收集结构,其特征在于:所述滑道(61)宽度为10mm,且滑轮(62)宽度为9mm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于芯米(厦门)半导体设备有限公司,未经芯米(厦门)半导体设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202021185969.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。