[实用新型]一种斜面砂轮的斜面大径一致性偏差检测装置有效
申请号: | 202021211393.8 | 申请日: | 2020-06-28 |
公开(公告)号: | CN212030384U | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 殷珂;刘登彪 | 申请(专利权)人: | 郑州磨料磨具磨削研究所有限公司;郑州三磨超硬材料有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 郑州优盾知识产权代理有限公司 41125 | 代理人: | 郑园 |
地址: | 450001 河南省*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 斜面 砂轮 一致性 偏差 检测 装置 | ||
本实用新型公开了一种斜面砂轮的斜面大径一致性偏差检测装置,包括测量支架,测量支架上铰接有角度可调的检测平台,检测平台上设置有固定斜面砂轮的定位结构,测量支架上设置有与斜面砂轮的斜面对应的量具。使用本实用新型进行测量时,首先,通过定位结构将斜面砂轮固定在检测平台上,使斜面砂轮获得相对检测平台唯一固定的位置。然后,调节检测平台的角度,直至测量端与斜面砂轮的斜面处于水平位置,量具的测量端在竖直方向对斜面砂轮的斜面进行测量。采用同样的方法,取另一件斜面砂轮固定在相同的定位结构上进行测量,可得出两者的偏差值,即为斜面砂轮斜面大径一致性偏差,测量过程简单、快速、准确。
技术领域
本实用新型属于砂轮检测的技术领域,特别是指一种斜面砂轮的斜面大径一致性偏差检测装置。
背景技术
在光学器件磨削加工应用中,多片1B1斜面砂轮组合在一起加工,多片1B1斜面砂轮一次进刀即可加工出多件具有规定角度的光学器件。因此,1B1斜面砂轮的斜面大径一致性偏差,决定了被加工光学器件的斜面位置精度。所以斜面砂轮在加工检测时,其斜面大径的一致性偏差是决定加工精度的关键因素。但由于斜面砂轮的斜面为尖锐状,并非完整圆周,并且随着砂轮斜面角度的减小,尖锐度增大,因此采用普通量具难以检测,而且现有技术中没有用于检测斜面砂轮的斜面大径一致性的专用检测装置。
实用新型内容
针对上述背景技术中的不足,本实用新型提出一种斜面砂轮的斜面大径一致性偏差检测装置,解决了斜面砂轮的斜面大径一致性偏差难以检测的技术问题。
本实用新型的技术方案是这样实现的:一种斜面砂轮的斜面大径一致性偏差检测装置,包括测量支架,所述测量支架上铰接有角度可调的检测平台,检测平台上设置有固定斜面砂轮的定位结构,测量支架上设置有与斜面砂轮的斜面对应的量具。使用本实用新型进行测量时,首先,通过定位结构将斜面砂轮固定在检测平台上,使斜面砂轮获得相对检测平台唯一固定的位置。然后,调节检测平台的角度,直至测量端与斜面砂轮的斜面处于水平位置,量具的测量端在竖直方向对斜面砂轮的斜面进行测量。同样的方法,取另一件斜面砂轮固定在相同的定位结构上进行测量,可得出两者的偏差值,即为斜面砂轮斜面大径一致性偏差,测量过程简单、快速、准确。
进一步地,所述定位结构包括定位销,定位销的外壁面与斜面砂轮的内孔壁相贴合。使用定位销对斜面砂轮进行固定,不仅结构简单而便于操作,而且定位原理可靠便捷,便于控制各个斜面砂轮定位的一致性。
进一步地,所述定位销至少设置有两个,通过设置多个小于斜面砂轮内径的定位销,可以进一步提高定位的精确性。
进一步地,所述测量支架包括测量基座,测量基座上端设置有测量支柱,所述检测平台的一端与测量支柱铰接,另一端可调设置在测量基座上。
进一步地,所述检测平台包括一端与测量支柱铰接的支撑板,所述定位结构设置在支撑板上,支撑板的另一端连接有调节板,调节板上设置有与测量基座相连的可调螺栓。检测人员通过调节可调螺栓,即可将调节板固定在不同的位置,进而实现检测平台的角度调节。
进一步地,所述调节板上开设有以支撑板的铰接点为圆心的弧形孔,所述可调螺栓穿过弧形孔与测量基座相连,使得角度调节更加便捷。
进一步地,所述量具为千分表或百分表或千分尺或百分尺。
进一步地,所述千分表或百分表的测头与斜面砂轮的斜面垂直相对,千分表或百分表通过测头,可测得不同斜面砂轮的相对差值。
进一步地,所述千分尺或百分尺的小砧固定设置在测量支架上,千分尺或百分尺的测微螺杆与斜面砂轮的斜面垂直相对。千分尺或百分尺通过测微螺杆,可间接测得不同斜面砂轮的相对差值。
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