[实用新型]一种球面干涉仪用除尘装置有效

专利信息
申请号: 202021226157.3 申请日: 2020-06-29
公开(公告)号: CN213287748U 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 邓春伟;李阳;肖正生 申请(专利权)人: 福建省霍尔比特科技有限公司
主分类号: B08B1/00 分类号: B08B1/00;G01B9/02
代理公司: 福州顺升知识产权代理事务所(普通合伙) 35242 代理人: 黄勇亮
地址: 362216 福建省泉州*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 球面 干涉仪 除尘 装置
【说明书】:

实用新型涉及光学仪器技术领域,具体为一种球面干涉仪用除尘装置,包括有球面干涉仪本体,球面干涉仪本体两侧壁均开设有滑槽,滑槽滑动连接有滚轮,滚轮连接有支架,支架横截面为L型,支架靠近球面干涉仪本体的一侧设置有刷毛;球面干涉仪本体顶部开设有凹槽,凹槽内可拆卸连接有清洁刷,清洁刷与球面干涉仪本体的镜头相匹配;推动支架滑动,带动刷毛清理球面干涉仪本体上的尘埃,使用后,旋转转动块,使限位凸起与限位凹槽卡接,以固定支架。打开盖板,将清洁刷从球面干涉仪本体取出,通过活性炭层吸附镜头上的尘埃。将刷毛和清洁刷与球面干涉仪本体连接,便于使用者对球面干涉仪清灰时,拿取清洁用具,避免在使用时寻找清洁用具。

技术领域

本实用新型涉及光学仪器技术领域,具体为一种球面干涉仪用除尘装置。

背景技术

球面干涉仪是一种原理为等厚干涉,用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器,其测量精度一般为/10~/100,为检测用光源的平均波长。

但是球面干涉仪经常暴露在空气当中,所以空气当中浮动的尘埃会吸附在球面干涉仪表面,同时也会吸附在镜头表面,球面干涉仪在检测光源的波长时往往容易受到外界尘埃的影响产生测量结果的偏差。但是现有的球面干涉仪不具有除尘装置,导致使用者需要额外准备清洁用具,清洁用具使用后,不便于存放。

基于此,本实用新型设计了一种球面干涉仪用除尘装置,以解决上述技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种球面干涉仪用除尘装置,用于以解决上述技术问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种球面干涉仪用除尘装置,包括有球面干涉仪本体,所述球面干涉仪本体两侧壁均开设有滑槽,所述滑槽滑动连接有滚轮,所述滚轮连接有支架,所述支架横截面为L型,所述支架靠近球面干涉仪本体的一侧设置有刷毛;

所述球面干涉仪本体顶部开设有凹槽,所述凹槽内可拆卸连接有清洁刷,所述清洁刷与球面干涉仪本体的镜头相匹配。

优选的,所述清洁刷由刷头和刷柄组成,所述刷头与刷柄铰接,所述刷头由第一刷头和第二刷头组成,所述第一刷头与刷柄铰接,所述第一刷头和第二刷头可拆卸连接,所述第二刷头远离第一刷头的一侧设置有活性炭层。

优选的,所述第一刷头靠近第二刷头的一侧设置有卡齿,所述第二刷头靠近第一刷头的一侧设置有卡齿相匹配的卡槽,所述第一刷头和第二刷头通过卡齿和卡槽可拆卸连接。

优选的,所述球面干涉仪本体顶部靠近镜头的一侧转动连接有转动块,所述转动块靠近支架的一侧设置有限位凸起,所述支架顶部设置有与限位凸起相匹配的限位凹槽,所述限位凸起卡接在限位凹槽内。

优选的,所述凹槽远离转动块设置在球面干涉仪本体顶部,所述凹槽可拆卸连接有盖板。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型使用时,旋转转动块,限位凸起与限位凹槽分离,使得支架能自由滑动,推动支架滑动,通过支架的滑动带动刷毛清理球面干涉仪本体上的尘埃,使用后,旋转转动块,使限位凸起与限位凹槽卡接,以固定支架,防止刷毛移动。当需要清理镜头时,打开盖板,将清洁刷从球面干涉仪本体取出,通过活性炭层吸附镜头上的尘埃。将刷毛和清洁刷与球面干涉仪本体连接,便于使用者需要对球面干涉仪清灰时,拿取清洁用具,避免在使用时,还需寻找清洁用具。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案,下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型结构示意图;

图2为本实用新型俯视图;

图3为本实用新型左视图;

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