[实用新型]一种微型激光芯片老化测试系统

权利要求书

1.一种微型激光芯片老化测试系统，其特征在于，包括上电模块(1)、温控模块(3)和机架模块(5)，所述上电模块(1)、温控模块(3)均安装于所述机架模块(5)上，所述温控模块(3)包括设置于机架模块(5)上的风扇(2)、温控器(4)、显示器(6)、温控开关(7)和多个老化子箱(8)，老化子箱(8)内设置有微型激光芯片，所述风扇(2)、温控器(4)、显示器(6)、温控开关(7)和多个老化子箱(8)相互电连接；所述温控模块(3)用于控制各个老化子箱(8)的温度；所述上电模块(1)用于为各个老化子箱(8)中的微型激光芯片供电。

2.根据权利要求1所述的一种微型激光芯片老化测试系统，其特征在于，所述机架模块(5)包括安装架(11)，安装架(11)的周边螺钉固定设置有盖板。

3.根据权利要求2所述的一种微型激光芯片老化测试系统，其特征在于，所述安装架(11)为方钢焊接构成，且安装架(11)的底部四角均螺钉固定安装有脚杯(9)和万向轮(10)。

4.根据权利要求1所述的一种微型激光芯片老化测试系统，其特征在于，所述老化子箱(8)内设置有保温层、产品载具、感温层、加热层和供电电路层。

5.根据权利要求1至4任一项所述的一种微型激光芯片老化测试系统，其特征在于，所述上电模块(1)包括电源模块(12)和电源开关(13)，电源模块(12)和电源开关(13)电连接，所述电源开关(13)包括恒流源供电单元、供电监控采样单元、通信与数据传送单元；

所述恒流源供电单元与供电监控采样单元的输入端连接，所述供电监控采样单元的输出端和通信与数据传送单元的输入端连接，所述通信与数据传送单元的输出端连接有老化电流监控终端。

6.根据权利要求1所述的一种微型激光芯片老化测试系统，其特征在于，所述温控开关(7)为固态继电器。