[实用新型]一种平盘高度量测器有效
申请号: | 202021249417.9 | 申请日: | 2020-06-30 |
公开(公告)号: | CN212658172U | 公开(公告)日: | 2021-03-05 |
发明(设计)人: | 刘得志 | 申请(专利权)人: | 东莞市世平光电科技有限公司 |
主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06 |
代理公司: | 东莞市明诺知识产权代理事务所(普通合伙) 44596 | 代理人: | 陈思远 |
地址: | 523000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 平盘 度量 | ||
本实用新型涉及高度量测器技术领域,具体地说,涉及平盘高度量测器,包括底座,底座上表面中心位置设有固定柱,固定柱中间底部设有第一锥型齿轮,第一锥型齿轮中心位置设有螺纹杆,第一锥型齿轮上方还设有第二锥型齿轮,T型滑槽中设有T型板体,T型板体端部开设有插槽,插槽中设有伸缩杆,量测柱前端面上设有多个均匀分布的刻度线;该平盘高度量测器,量测柱内部开设T型滑槽配合T型板体,便于T型板体在T型滑槽内部稳定的移动,使用者手动调节T型板体的高度,伸缩杆与插槽插接配合,便于调整不同的长度,测量不同大小的平盘,量测柱前端面上配合均匀分布的刻度线,再与指针的配合使用,便于准确的测量平盘的高度。
技术领域
本实用新型涉及高度量测器技术领域,具体为一种平盘高度量测器。
背景技术
在半导体制程中,必须定期或不定期地对半导体制程设备的零件进行清洗及再生,以维持半导体制程设备的效能,并可延长设备的使用寿命。以物理气相沉积制程为例,物理气相沉积技术表示在真空条件下,采用物理方法,将固体或液体材料源的表面气化成气态原子、分子或部分电离成离子,并通过低压气体过程,在基体表面沉积具有某种特殊功能的薄膜的技术,在基体表面沉积时,为了避免基体其他面被沉积,需要使用遮覆板进行遮挡,遮覆板可使用物理除膜、化学除膜的方式进行除膜,但这两种手段由于遮覆板材质、镀层的不同需要调整相对应的工艺,工艺繁杂,因此会不可避免的造成一定的磨损,因此,在清洗结束后,需要对遮覆板进行量测,量测需要使用到平盘高度量测器,而现有的平盘高度量测器都是使用者手动拿卷尺进行测量,其中不能保证在测量时,竖直高度是垂直的,与平盘口齐平测量容易产生偏差。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种平盘高度量测器,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种平盘高度量测器,包括底座,所述底座上表面中心位置设有固定柱,所述固定柱内部呈空心状,所述固定柱中间底部设有第一锥型齿轮,所述第一锥型齿轮中心位置设有螺纹杆,所述第一锥型齿轮上方还设有第二锥型齿轮,所述第二锥型齿轮中心位置设有摇把,所述摇把穿出固定柱,所述固定柱上方设有量测柱,所述量测柱后端面上设有T型滑槽,所述T型滑槽中设有T型板体,所述T型板体靠近端部处开设有螺纹孔,所述T型板体端部开设有插槽,所述T型板体侧面上开设有若干个与插槽连通的第一销孔,所述插槽中设有伸缩杆,所述伸缩杆端部上设有卡板,所述伸缩杆侧面上开设有若干个第二销孔,其中一个所述第二销孔中设有插销,所述T型板体上还设有指针,所述螺纹杆延伸至T型滑槽中,且所述螺纹杆穿过螺纹孔,所述量测柱前端面上设有多个均匀分布的刻度线。
优选的,所述底座与固定柱为一体成型结构,所述第一锥型齿轮底部与固定柱通过转轴转动连接,所述螺纹杆与第一锥型齿轮为一体成型结构,所述第二锥型齿轮与摇把为一体成型结构,所述第一锥型齿轮与第二锥型齿轮齿轮啮合,所述摇把上套设有轴承,通过轴承与固定柱转动连接。
优选的,所述量测柱与固定柱通过螺栓固定连接,所述量测柱顶部设有限位板,所述限位板通过螺栓与固定柱固定连接。
优选的,所述T型滑槽的宽度与T型板体的宽度相适配,所述螺纹孔的孔径与螺纹杆的直径相适配,所述螺纹杆与螺纹孔螺纹连接。
优选的,所述插槽的宽度与伸缩杆的宽度相适配,所述伸缩杆与插槽插接配合,所述第二销孔呈等间距分布,且所述第一销孔与第二销孔相对应,所述第二销孔的孔径与第一销孔的孔径相适配,所述插销的直径与第二销孔的孔径相适配,所述卡板与伸缩杆为一体成型结构,所述卡板的下表面与T型板体的下表面平行。
优选的,所述指针与T型板体为一体成型结构,所述指针卡接在量测柱外壁上,所述指针的尖端与刻度线对应。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
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