[实用新型]测试座支架

说明书

本实用新型提供一种测试座支架，包括固定座，沿前后方向设置，固定座的中部沿左右方向设置有测试座安装孔，固定座的前端的顶面竖向设置有前固定孔，固定座的后端的顶面竖向设置有后固定孔，固定座的前端的顶面和固定座的后端的顶面处于同一水平面。较佳地，测试座安装孔的横截面为长条形，长条形沿竖向设置。还包括前卡部，设置在固定座的前端的右侧面上。还包括后卡部，设置在固定座的后端的右侧面上。还包括前定位销，设置在固定座的前端的顶面上。还包括后定位销，设置在固定座的后端的顶面上。本实用新型的测试座支架能够保证测试探针良好接触产品引脚，避免由于接触不良导致产品误测，提高测试良率，提高一次直通良率，提高生产效率。

技术领域

本实用新型涉及半导体封装测试技术领域，特别涉及产品电性能测试技术领域，具体是指一种测试座支架。

背景技术

在半导体封装测试过程中，当前对产品进行电性能测试时，测试面板固定块的右端固定在测试座的顶面上，测试面板固定块的左端的后段固定在测试座支架上。

当前测试座支架大多为L型，请参见图1～图4所示，测试座支架通常包括竖臂1、横臂2、固定部3和支撑部4，横臂2沿左右方向设置，竖臂1的下端连接横臂2的左端，固定部3的后端连接横臂2的右端，固定部3沿左右方向设置有安装孔5，支撑部4的右端连接竖臂1的上端，支撑部4的左端竖向设置有固定孔6。

使用时，测试座的左侧面沿左右方向也设置有安装孔5，螺栓穿设固定部3的安装孔5和测试座的左侧面的安装孔5从而将测试座支架固定至测试座的左侧面，测试面板固定块的左端的后段也竖向设置有固定孔6，螺栓穿设支撑部4的左端的固定孔6和测试面板固定块的左端的后段的固定孔6从而将测试面板固定块的左端的后段固定在测试座支架上。

采用这样的固定结构，测试面板固定块的左端的前段悬空，而测试面板固定在测试面板固定块上，这样在测试产品时，吸嘴拾取产品下压到测试面板固定块的左端的前段时，前段在受力的情况下，由于悬空，会产生轻微的倾斜，导致前段低，后段高，在测试探针统一高度的情况下，测试探针会良好的接触产品的左端的后段的引脚，而由于轻微倾斜的原因无法良好的接触产品的左端的前段的引脚，造成产品电性能误测为不良。

因此，希望提供一种测试座支架，其能够保证测试探针良好接触产品引脚，避免由于接触不良导致产品误测，提高测试良率，提高一次直通良率，提高生产效率。

实用新型内容

为了克服上述现有技术中的缺点，本实用新型的一个目的在于提供一种测试座支架，其能够保证测试探针良好接触产品引脚，避免由于接触不良导致产品误测，提高测试良率，提高一次直通良率，提高生产效率，适于大规模推广应用。

本实用新型的另一目的在于提供一种测试座支架，其设计巧妙，结构简洁，制造简便，成本低，适于大规模推广应用。

为达到以上目的，本实用新型的测试座支架，其特点是，包括固定座，所述固定座沿前后方向设置，所述固定座的中部沿左右方向设置有测试座安装孔，所述固定座的前端的顶面竖向设置有前固定孔，所述固定座的后端的顶面竖向设置有后固定孔，所述的固定座的前端的顶面和所述的固定座的后端的顶面处于同一水平面。

较佳地，所述测试座安装孔的横截面为长条形，所述长条形沿竖向设置。

较佳地，所述固定座是固定板。

较佳地，所述测试座支架还包括前卡部，所述前卡部设置在所述的固定座的前端的右侧面上。

更佳地，所述前卡部为竖向卡条。

较佳地，所述测试座支架还包括后卡部，所述后卡部设置在所述的固定座的后端的右侧面上。

更佳地，所述后卡部为竖向卡条。

较佳地，所述测试座支架还包括前定位销，所述前定位销设置在所述的固定座的前端的顶面上。