[实用新型]辐射杂散测试装置和电子设备

说明书

本实用新型提供了一种辐射杂散测试装置和电子设备，涉及测试技术领域。该辐射杂散测试装置包括电子设备和辅助滤波单元，电子设备包括多个测试电路、切换单元和多个测试天线，多个测试电路与多个测试天线一一对应。当多个测试电路中的第一测试电路通过切换单元与辅助滤波单元的输入端电连接，辅助滤波单元的输出端与第一测试电路对应的第一测试天线点连接上时，第一测试电路、切换单元、辅助滤波单元和第一测试天线组成第一测试通路；利用测试仪对第一测试通路进行辐射杂散测量，得到第一测试结果；根据第一测试结果判断辐射杂散来源。通过增加滤波单元就能实现辐射杂散的测试，在开发调试时，避免了其它设备带来的干扰，也节约了调试成本。

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种辐射杂散测试装置和电子设备。

背景技术

电子设备进入市场销售之前，必须进行发射杂散认证。3GPP(3rd GenerationPartnership Project，第三代合作伙伴计划)对杂散有明确的规定，电子设备产生的杂散不能超出一定的限值，避免影响到其它设备。

目前电子设备在开发调试时，虽有很多的调试方法来定位杂散的来源。但一般需借用第二设备来判断杂散来自天线通路本身还是电子设备其它组件引入的干扰，由于第二设备与电子设备在同一暗室同一个转台，因此并不能排除第二设备会对电子设备造成干扰。同时，需配备额外的第二设备进行开发调试，也增加了电子设备的开发调试成本。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种辐射杂散测试装置和电子设备，通过电子设备自身就能实现辐射杂散的测试，在开发调试时，避免了其它设备带来的干扰，也节约了调试成本。

第一方面，本实用新型实施例提供一种辐射杂散测试装置，包括电子设备和辅助滤波单元，所述电子设备包括多个测试电路、切换单元和多个测试天线，所述多个测试电路与所述多个测试天线一一对应；

所述多个测试天线包括第一测试天线，当所述多个测试电路中的第一测试电路通过所述切换单元与所述辅助滤波单元的输入端电连接，所述辅助滤波单元的输出端与所述第一测试电路对应的第一测试天线电连接时，所述第一测试电路、所述切换单元、所述辅助滤波单元和所述第一测试天线组成第一测试通路；

利用测试仪对所述第一测试通路进行辐射杂散测量，得到第一测试结果；

根据所述第一测试结果判断辐射杂散来源。

在可选的实施方式中，所述电子设备还包括第一测试端口和第二测试端口；

当利用所述测试仪对所述第一测试通路进行测试时，所述切换单元通过所述第一测试端口与所述辅助滤波单元的输入端电连接，所述辅助滤波单元的输出端通过所述第二测试端口与所述第一测试天线电连接。

在可选的实施方式中，所述多个测试天线包括第二测试天线，当所述多个测试电路中的第二测试电路通过所述切换单元与所述辅助滤波单元的输入端电连接，所述辅助滤波单元的输出端与所述第二测试电路对应的第二测试天线电连接时，所述第二测试电路、所述切换单元、所述辅助滤波单元和所述第二测试天线组成第二测试通路；

利用所述测试仪对所述第二测试通路进行辐射杂散测量，得到第二测试结果；

根据所述第二测试结果判断辐射杂散来源。

在可选的实施方式中，所述电子设备还包括第一测试端口和第二测试端口；

当利用所述测试仪对所述第二测试通路进行测试时，所述切换单元通过所述第一测试端口与所述辅助滤波单元的输入端电连接，所述辅助滤波单元的输出端通过所述第二测试端口与所述第二测试天线电连接。

在可选的实施方式中，所述切换单元包括多刀多掷开关和多路选择器中的一种。

在可选的实施方式中，所述辅助滤波单元为低通滤波器。