[实用新型]一种滑砂式砂土与结构物相对粗糙度测量装置

说明书

本实用新型涉及一种滑砂式砂土与结构物相对粗糙度测量装置，包括倾斜架、设置在所述倾斜架上的斜面板、设置在所述倾斜架上的结构槽、设置在所述结构槽内的结构物，设置所述倾斜架上端的储砂槽、设置所述倾斜架下端的集砂槽、以及用于时间读数的计时器；所述结构槽设置在所述斜面板上；本实用新型解决了传统粗糙度测量所存在测量精度误差大、测量繁琐等问题，本实用新型能够较准确地测定砂土与结构物接触相对粗糙度，具有操作方便，制作简单，测量精度较高，便于推广应用等优点。

技术领域

本实用新型涉及土工安装测试技术领域，具体地说是一种滑砂式砂土与结构物相对粗糙度测量装置。

背景技术

土体与结构物接触力学特性的研究一直以来都是研究的热点问题，而土体与结构物接触力学特性与结构物粗糙度和相关土体参数密切相关，明确土体与结构物接触粗糙度有利于揭示土体与结构物接触力学特性。因而，土体与结构物接触粗糙度的测定成为研究土体与结构物接触力学特性的关键。

目前常用的粗糙度量化方法主要有粗糙度测定仪法、触针法、灌砂法和硅粉堆落法等，同时粗糙度测定仪法和触针法均是以灌砂法为基础。灌砂法是采用板材结构将被测结构物四周封闭，并且使结构物被测表面的最高点位于板材结构最高水平面内。通过在封闭的凹槽空间内灌入标准砂，并使标准砂平面与板材结构水平面齐平，而后测量灌入标准砂体积，将灌砂体积与结构物表面横截面积的比作为灌砂的平均深度，则灌砂的平均深度即为结构物表面粗糙度。但灌砂法测量过程中，灌砂深度超过一定范围后测得结构物粗糙度基本无变化，且对规则型结构物表面粗糙度测定往往与实际具有显著差异；硅粉堆落法是采用质量50g粒径为0.05～0.1mm的硅粉自然堆落于结构物表面，其形成一个圆形区域。通过对圆形区域半径进行测量，可以得到结构物表面粗糙度即采用圆形区域半径表示结构物表面的粗糙度或称粗糙度指数，但硅粉堆落法对结构物表面粗糙度划分比较粗糙。

因此，如何提供一种滑砂式砂土与结构物相对粗糙度测量装置，以解决现有技术所存在的问题，是目前本领域技术人员亟待解决的技术问题。

实用新型内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种滑砂式砂土与结构物相对粗糙度测量装置，以简化砂土与结构物相对粗糙度测定问题，提高测量效率和测量精度，方便砂土与结构物接触力学特性的研究。

为了达到上述目的，本申请提供如下技术方案。

一种滑砂式砂土与结构物相对粗糙度测量装置，包括倾斜架、设置在所述倾斜架上的斜面板、设置在所述倾斜架上的结构槽、设置在所述结构槽内的结构物，设置所述倾斜架上端的储砂槽、设置所述倾斜架下端的集砂槽、以及用于时间读数的计时器；所述结构槽设置在所述斜面板上。

优选地，所述斜面板两侧均设置有挡板，所述挡板内侧为光滑结构，所述挡板与所述斜面板固定连接。

优选地，所述斜面板位于所述储砂槽的下方设置有第一传感器，位于所述集砂槽的上方设置有第二传感器，所述第一传感器、第二传感器用于接收砂土信号。

优选地，所述第一传感器、第二传感器分别通过导线与所述计时器连接。

优选地，所述第一传感器、第二传感器为红外线传感器、脉冲传感器和摄像传感器中的至少一种。

优选地，所述储砂槽下部设置有用于控制砂土释放的阀门。

优选地，所述结构物的材质为混凝土、木材、钢材、铝合金中的至少一种。

优选地，所述斜面板的角度为45°，所述斜面板的材质为不锈钢或铝合金。

本实用新型所获得的有益技术效果：

1)本实用新型解决了传统粗糙度测量所存在测量精度误差大、测量繁琐等问题，本实用新型能够较准确地测定砂土与结构物接触相对粗糙度，具有操作方便，制作简单，测量精度较高，便于推广应用等优点；