[实用新型]一种移载机构及电子元件测试分选机有效
申请号: | 202021324962.X | 申请日: | 2020-07-08 |
公开(公告)号: | CN212550539U | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 仇葳 | 申请(专利权)人: | 天津金海通半导体设备股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/00 | 分类号: | B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38 |
代理公司: | 天津企兴智财知识产权代理有限公司 12226 | 代理人: | 苏冲 |
地址: | 300384 天津市滨*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 机构 电子元件 测试 分选 | ||
1.一种移载机构,其特征在于:包括至少一组Y向移载组件及偶数个X-Y向移动组件;
两个所述X-Y向移动组件为一组,一组中的两个所述X-Y向移动组件镜像对称设置,每个所述X-Y向移动组件上均设有移载装置,每个所述X-Y向移动组件均能够驱动所述移载装置做X轴向和Y轴向平移运动,所述移载装置上设有多个能够放置电子元件的空穴;
至少一组所述Y向移载组件上均设有能够取放电子元件的取放装置,所述取放装置的数量为一个或多个,所述移载装置的每一空穴均能够移动到与所述取放装置对应的取放工位。
2.根据权利要求1所述的一种移载机构,其特征在于:所述X-Y向移动组件包括X轴向驱动源及Y轴向驱动源,所述Y轴向驱动源的输出端与所述X轴向驱动源连接,所述X轴向驱动源的输出端与所述移载装置连接。
3.根据权利要求2所述的一种移载机构,其特征在于:所述Y轴向驱动源包括电机结构、传动组件及移动平台,所述电机结构通过所述传动组件驱动所述移动平台,所述移动平台与所述X轴向驱动源连接;
所述X轴向驱动源与所述Y轴向驱动源结构相同,所述移载装置安装在所述X轴向驱动源的移动平台上。
4.根据权利要求1-3任一项所述的一种移载机构,其特征在于:所述移载装置包括至少一个移载小车,每一所述移载小车上均设有多个所述空穴。
5.根据权利要求4所述的一种移载机构,其特征在于:所述Y向移载组件包括至少一组移载驱动源,每组所述移载驱动源上均设有至少一个所述取放装置。
6.根据权利要求4所述的一种移载机构,其特征在于:每一所述移载小车中的空穴布局均与测试机构的测试座布局完全相同。
7.一种电子元件测试分选机,其特征在于:包括主机架、上料机构、测试机构、收料机构、自动化控制装置、运输机构及两套权利要求1、2、3、5、6任一项所述的移载机构;
所述上料机构、测试机构、收料机构、运输机构及两套所述的移载机构均装配在所述主机架上,一套所述移载机构为上料移载机构,另一套所述移载机构为收料移载机构;
所述运输机构包括上料取放机构、收料取放机构及两个移载臂,所述上料取放机构设置在一个所述移载臂上,所述收料取放机构设置在另一个所述移载臂上,当所述测试分选机对电子元件进行测试时,所述上料取放机构能够一次抓取所述上料移载机构上的一个或多个空穴内的电子元件,然后将一个或多个电子元件同时放置在所述测试机构的测试座内,所述收料取放机构能够一次抓取所述测试机构上的一个或多个测试座内已测试完的电子元件,然后将一个或多个电子元件同时放置在收料移载机构上的一个或多个空穴内;
所述自动化控制装置能够控制上料机构进行上料,所述自动化控制装置能够控制收料机构进行收料,所述自动化控制装置能够控制测试机构进行测试,所述自动化控制装置能够控制两个所述移载臂做出移载动作,所述自动化控制装置能够控制所述上料取放机构及收料取放机构做出取放动作;
所述自动化控制装置能够控制每一组Y向移载组件的取放装置做取放运动,所述上料移载机构的取放装置做取放运动的过程为将所述上料机构中的电子元件移载到处于取放工位位置的空穴内,所述收料移载机构的取放装置做取放运动的过程为将处于取放工位位置的空穴内电子元件移载到所述收料机构内,所述自动化控制装置通过控制每个X-Y向移动组件,进而能够实现每个移载装置做X轴向和Y轴向平移运动。
8.根据权利要求7所述的一种电子元件测试分选机,其特征在于:所述上料机构为自动料管上料机构,所述收料机构为自动料管收料机构。
9.根据权利要求7所述的一种电子元件测试分选机,其特征在于:所述上料机构为自动料管上料机构,所述收料机构为自动载带收料机构。
10.根据权利要求7所述的一种电子元件测试分选机,其特征在于:所述上料机构为自动震动料盘上料机构,所述收料机构为自动载带收料机构。
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