[实用新型]一种基于载板共用的可兼容性平台装置

说明书

本实用新型公开了一种基于载板共用的可兼容性平台装置，其上设有用于连接载板的载板接口A和与测试机上设有的载板接口B匹配的连接插槽，连接插槽与载板接口A通过电路连接；载板接口A与载板接口B不同。本实用新型的基于载板共用的可兼容性平台装置，结构简单，使用便捷性好；能够实现载板在各种型号的测试机中通用，由于载板的通用性，可以方便地在不同型号的测试机间互相移植程序，无需额外的转化调试，进而极大地降低硬件成本，降低集成电路测试的应用门槛，极具应用前景。

技术领域

本实用新型属于集成电路测试设备技术领域，涉及一种基于载板共用的可兼容性平台装置。

背景技术

随着芯片制程越来越小，其工艺难度也呈指数型上升。以10nm工艺为例，全工艺步骤数超过1300道，7nm工艺则超过1500道，其中任何一道工艺出错都可能导致生产的集成电路不合格，拉低良品率。因此，为了及时发现不稳定因素、提高生产良率，测试环节贯穿在集成电路的生产流程里，测试设备则是其中的关键。

集成电路测试设备不仅可用于判断被测芯片或器件的合格性，同时还可提供关于设计、制造过程的薄弱环节信息，有助于提高芯片制造水平，从源头提高芯片的性能和可靠性。集成电路测试设备主要包括测试机、探针台和分选机，其中测试机是最为重要的测试设备，其在所有的测试环节中均需要使用。

目前由于不同型号测试机结构上的差异，导致其载板并不通用，不同型号的测试机需要配置不同型号的载板(如A1型号集成电路自动测试机工作时需使用专用的LB1载板，Q1型号集成电路自动测试机工作时需使用专用的LB2载板，A1或Q1型号集成电路自动测试机无法混用载板)，这极大地增加了硬件成本，极大地提高了测试机的应用门槛。

因此，开发一种能够实现载板混用的兼容性平台极具现实意义。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术测试机与载板型号一一对应，极大地增加了硬件成本及测试机的应用门槛的缺陷，提供一种能够实现载板混用的兼容性平台，通过使用该兼容性平台，一方面能使得载板在各种型号的测试机中通用，另一方面，由于载板的通用性，可以方便地在不同型号的测试机间互相移植程序，无需额外的转化调试，进而极大地降低硬件成本，降低集成电路测试的应用门槛。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种基于载板共用的可兼容性平台装置，其上设有用于连接载板的载板接口A和与测试机上设有的载板接口B匹配的连接插槽，连接插槽与载板接口A通过电路连接；

所述载板接口A与载板接口B不同。

本实用新型的一种基于载板共用的可兼容性平台装置，结构简单，使用便捷性好，载板是芯片与测试卡中间的关键件，在芯片测试过程中正是载板读取并运行测试卡上的程序对芯片进行测试(上述载板为统称，包括但不限于校验类载板(Cal kit)，被测类载板(DUT)等等)，通过使用该基于载板共用的可兼容性平台装置能使得载板在各种型号的测试机中通用(可根据需要选择载板接口A及载板接口B的具体类型)，同时，由于载板的通用性，可以方便地在不同型号的测试机间互相移植程序，无需额外的转化调试，进而极大地降低硬件成本，降低集成电路测试的应用门槛。

作为优选的技术方案：

如上所述的一种基于载板共用的可兼容性平台装置，所述基于载板共用的可兼容性平台装置包括平板；

所述载板接口A布置在平板的上方，所述连接插槽布置在所述平板的侧后方。本实用新型的具体保护范围并不仅限于此，可兼容性平台装置的具体形状及其部件的布置本领域技术人员可根据实际需求进行选择，本实用新型的基于载板共用的可兼容性平台装置甚至可以同时设有多种载板接口及多种连接插槽以满足不同测试机的需求，当然载板接口与连接插槽的具体连接关系需要根据实际需求进行设置。