[实用新型]绝缘栅双极型晶体管有效

专利信息
申请号: 202021338309.9 申请日: 2020-07-09
公开(公告)号: CN212182337U 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 周振强;徐承福 申请(专利权)人: 中芯集成电路制造(绍兴)有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/423
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 曹廷廷
地址: 312000 浙*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 绝缘 栅双极型 晶体管
【权利要求书】:

1.一种绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,包括:

漂移区和存储层,自下向上依次形成于衬底中;以及,

多个栅极结构,形成于所述衬底中,所述多个栅极结构包括若干第一栅极结构和若干第二栅极结构,所述第一栅极结构的深度介于所述漂移区的顶面和底面之间,所述第二栅极结构的深度介于所述存储层的顶面和底面之间,并且所述第一栅极结构和所述第二栅极结构按照预设比例排布。

2.如权利要求1所述的绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述预设比例为1:3~3:1。

3.如权利要求1所述的绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述第一栅极结构和所述第二栅极结构在所述衬底中交替排布。

4.如权利要求1所述的绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述第一栅极结构的宽度大于所述第二栅极结构的宽度。

5.如权利要求1~4中任一项所述的绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述多个栅极结构包括覆盖于所述衬底中的沟槽的侧壁和底壁上的栅极介质层和填满所述沟槽的栅极层。

6.如权利要求5所述的绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述绝缘栅双极型晶体管还包括形成于所述存储层上的基区,以及形成于所述漂移区底面的缓冲层。

7.如权利要求6所述的绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述绝缘栅双极型晶体管还包括发射区,所述发射区形成于所述基区的顶部且位于所述栅极结构的两侧。

8.如权利要求7所述的绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述绝缘栅双极型晶体管还包括发射极和栅电极,所述发射极形成于所述基区的顶面上,且所述发射极的底部分别与两侧的所述发射区相接;所述栅电极形成于所述栅极层的顶面上。

9.如权利要求8所述的绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述绝缘栅双极型晶体管还包括集电区和集电极,所述集电区形成于所述缓冲层的底面,所述集电极形成于所述衬底的底面上,且所述集电极与所述集电区相接。

10.如权利要求7所述的绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述衬底和所述基区具有第一导电类型,所述缓冲层、所述漂移区、所述存储层和所述发射区具有第二导电类型;当所述第一导电类型为N型时,所述第二导电类型为P型;当所述第一导电类型为P型时,所述第二导电类型为N型。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯集成电路制造(绍兴)有限公司,未经中芯集成电路制造(绍兴)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202021338309.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top