[实用新型]具有屏蔽栅的沟槽型IGBT器件有效

专利信息
申请号: 202021391765.X 申请日: 2020-07-15
公开(公告)号: CN212542442U 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 朱永斌;邱嘉龙;李志军;何祖辉;邱秀华 申请(专利权)人: 浙江天毅半导体科技有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/423;H01L29/06
代理公司: 北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589 代理人: 曹玉清
地址: 312000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 具有 屏蔽 沟槽 igbt 器件
【权利要求书】:

1.具有屏蔽栅的沟槽型IGBT器件,包括导电漂移区(1),其特征在于:所述导电漂移区(1)的底部固定连接有导电衬底(4),所述导电衬底(4)的底部固定连接有保护层(3),所述保护层(3)包括集电极金属引出极(14),所述集电极金属引出极(14)的底部固定连接有缓冲层(13),所述缓冲层(13)的底部固定连接有绝缘基底层(12),所述导电漂移区(1)的顶部从左至右依次镶嵌有四个控制栅氧化层(5),外侧两个控制栅氧化层(5)的内腔设置有栅极发射氧化层(6),所述栅极发射氧化层(6)的顶部固定连接有栅极发射引出电极(11),内侧两个控制栅氧化层(5)的内腔设置有栅极接收氧化层(10),所述栅极接收氧化层(10)的顶部固定连接有栅极接收引入电极(8),所述栅极发射引出电极(11)和栅极接收引入电极(8)的顶部均固定连接有导电块(7),相邻两个导电块(7)的顶部横向固定连接有导电桥架(15),所述导电漂移区(1)顶部表面的中心处镶嵌有导电掺杂区(9),内侧相邻两个控制栅氧化层(5)相对应的一侧横向固定连接有导电类型的载流子埋层(2),所述导电漂移区(1)顶部表面的两侧且位于导电桥架(15)的底部和两个导电块(7)之间填充有场氧化层(18),所述场氧化层(18)上贯穿镶嵌有屏蔽栅多晶硅(16),所述导电漂移区(1)顶部表面的两侧且位于导电桥架(15)的顶部和导电块(7)的外侧固定连接有绝缘盖板(17)。

2.根据权利要求1所述的具有屏蔽栅的沟槽型IGBT器件,其特征在于:所述集电极金属引出极(14)的顶部与导电漂移区(1)的底部固定连接。

3.根据权利要求1所述的具有屏蔽栅的沟槽型IGBT器件,其特征在于:所述栅极发射氧化层(6)和栅极接收氧化层(10)顶部的表面与导电漂移区(1)顶部的表面在同一条直线上。

4.根据权利要求1所述的具有屏蔽栅的沟槽型IGBT器件,其特征在于:所述栅极发射引出电极(11)和栅极接收引入电极(8)的顶部凸出导电漂移区(1)。

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