[实用新型]交直流电参数测试仪

说明书

本实用新型公开了交直流电参数测试仪，本实用新型涉及交直流电参数测试技术领域，包括测试仪外壳体，所述测试仪外壳体的内部安装有主板，所述测试仪外壳体的前表面和后表面均开设有接线口，所述测试仪外壳体的顶部开设有滑槽，所述滑槽上安装有支架，所述支架的两端部均安装有滑块，所述滑块与滑槽滑动连接，所述支架的顶部开设有通孔，且通孔的一侧安装有挡片，所述挡片的顶端安装有方块，所述挡片的宽度大于接线口的宽度，本实用新型通过设置了挡片，解决了接线口触片上被灰尘污染，易导致外部线缆接触不良的问题，通过设置了支架，解决了接线口触片上被灰尘污染，易导致外部线缆接触不良的问题。

技术领域

本实用新型属于交直流电参数测试技术领域，具体涉及交直流电参数测试仪。

背景技术

交直流电参数测试是针对交直流电使用时，交直流电各项参数的测量活动，为了保证交直流电接入用电器后，用电器可以安全稳定运行，在用电器通电的过程中，需要对交直流电进行全程的数据测试，避免交直流电出现异常，导致用电器损毁，现有的交直流电参数测试仪在使用时存在不足之处，交直流电参数测试仪外部需要安装电流隔离互感器和零序互感器，交直流电参数测试仪外部无保护结构，电流隔离互感器和零序互感器工作产生的温度影响交直流电参数测试仪稳定工作，且接线口较多，接线口暴露在外部，接线口触片上被灰尘污染，易导致外部线缆接触不良。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供交直流电参数测试仪，以解决上述背景技术中提出的安装在交直流电参数测试仪外部的电器件工作产生的温度影响交直流电参数测试仪稳定工作，且接线口触片上被灰尘污染，易导致外部线缆接触不良的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：交直流电参数测试仪，包括测试仪外壳体，所述测试仪外壳体的内部安装有主板，所述测试仪外壳体的前表面和后表面均开设有接线口，所述测试仪外壳体的顶部开设有滑槽，所述滑槽上安装有支架，所述支架的两端部均安装有滑块，所述滑块与滑槽滑动连接。

优选的，所述支架的顶部开设有通孔，且通孔的一侧安装有挡片，所述挡片的顶端安装有方块，所述挡片贯穿于通孔。

优选的，所述挡片的宽度大于接线口的宽度，所述方块的长度大于通孔的长度。

优选的，所述支架的顶部靠近通孔的一侧位置处开设有安装孔，所述安装孔至少设置有十个，且安装孔呈矩形阵列排布。

优选的，所述测试仪外壳体的底部四个拐角处均安装有底座，且四个底座的外表面均涂设有绝缘涂层。

优选的，所述挡片的中心线与接线口的中心线重合。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

(1)本实用新型通过设置了挡片，挡片可以遮挡住接线口，接线口接入数据线缆之前，用挡片挡住接线口，有利于提高数据线缆接线的稳定性，保证测试仪工作过程的稳定，解决了接线口触片上被灰尘污染，易导致外部线缆接触不良的问题。

(2)本实用新型通过设置了支架，在支架的上方可以安装其他电器件，有利于将电器件与测试仪本体隔开，同时测试仪本体位于支架的下方，电器件与测试仪本体之间的数据线缆便于排线，不会发生缠绕，解决了接线口触片上被灰尘污染，易导致外部线缆接触不良的问题。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型测试仪外壳体的结构示意图；

图3为本实用新型支架的俯视图；

图4为图1中的A部放大图；

图中：1-接线口；2-支架；21-安装孔；22-通孔；3-挡片；4-方块；5-底座；6-测试仪外壳体；7-主板；8-滑块；9-滑槽。

具体实施方式