[实用新型]辅助定向组件、X射线定向仪以及晶体加工设备有效
申请号: | 202021413730.1 | 申请日: | 2020-07-17 |
公开(公告)号: | CN212568551U | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 张晓周;李德斌;陈丽英;马建 | 申请(专利权)人: | 成都东骏激光股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/20025 | 分类号: | G01N23/20025 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 毕翔宇 |
地址: | 611600 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辅助 定向 组件 射线 以及 晶体 加工 设备 | ||
本申请涉及晶体加工、切割技术领域,尤其是一种辅助定向组件、X射线定向仪以及晶体加工设备设置。一种辅助定向组件,放置在X射线定向仪的测试台上,包括夹持台;夹持台上开设有安放槽,安放槽具有第一侧壁和第二侧壁,第一侧壁与第二侧壁呈第一预设角度;安放槽用于放置待测晶体;待测晶体的轴向侧面分别与所述第一侧壁和所述第二侧壁相切。本申请中安放槽的第一侧壁与第二侧壁垂直连接,保证夹持台的第一侧壁与第二侧壁之间的垂直度,当将待测晶体放置在安放槽内时,待测晶体的轴向侧面分别与第一侧壁和第二侧壁相切,即能够保证待测晶体的轴向侧面与安装槽之间较小垂直度的垂直度偏差,进而保证待测晶体轴向晶向偏差无误。
技术领域
本申请涉及晶体加工、切割技术领域,尤其是涉及一种辅助定向组件、X射线定向仪以及晶体加工设备。
背景技术
在对晶体做定向切割时,首先需要测量出轴向晶向偏差,晶体轴向晶向偏差通过晶体端面晶向偏差和用于固定待测晶体结构的垂直度进行计算得到;然而对于生长用籽晶、直径较小的棒状晶体或条状晶体等而言,用于固定待测晶体结构的垂直度偏差较大,最终导致测得的待测晶体轴向晶向偏差有误差。
因此,亟需一种辅助定向组件、X射线定向仪以及晶体加工设备,在一定程度上以解决现有技术中的问题。
实用新型内容
本申请的目的在于提供一种辅助定向组件、X射线定向仪以及晶体加工设备,在一定程度上以解决利用现有技术中的用于固定待测晶体结构的垂直度偏差较大,导致测得的待测晶体轴向晶向偏差有误差的技术问题。
本申请提供了一种辅助定向组件,用于X射线定向仪,所述辅助定向组件包括夹持台,所述夹持台设置于所述X射线定向仪的测试台上;
所述夹持台上开设有安放槽,所述安放槽具有第一侧壁和第二侧壁,所述第一侧壁与所述第二侧壁呈第一预设角度;
所述安放槽用于放置待测晶体;所述待测晶体的轴向侧面分别与所述第一侧壁和所述第二侧壁相切,且所述待测晶体的端面能够与所述测试台的测试面相接触。
在上述技术方案中,进一步地,还包括连接部,所述连接部平行于所述测试台;所述夹持台通过所述连接部设置在所述测试台上;
所述连接部与所述夹持台呈第二预设角度连接。
在上述技术方案中,进一步地,所述第一预设角度设置为90°;所述第二预设角度为90°。
本申请还提供一种X射线定向仪,包括测试台以及上述的辅助定向组件,所述辅助定向组件设置在所述测试台上,所述待测晶体位于所述安放槽上且所述待测晶体的径向端面与所述测试台接触。
在上述技术方案中,进一步地,还包括真空泵;所述测试台与所述连接部连接位置处开设有气孔;所述真空泵的进风口与所述气孔相对。
在上述技术方案中,进一步地,所述测试台上设置有第一安装部,所述第一安装部沿第一方向延伸。
在上述技术方案中,进一步地,所述连接部上设置有第二安装部,所述第二安装部沿所述第一方向延伸。
在上述技术方案中,进一步地,还包括连接件,所述连接件依次穿过所述第一安装部和所述第二安装部,以使所述连接部安装在所述测试台上。
在上述技术方案中,进一步地,所述连接件为螺栓。
本申请还提供一种晶体加工设备设置,包括上述的X射线定向仪。
与现有技术相比,本申请的有益效果为:
本申请提供的一种辅助定向组件,放置在X射线定向仪的测试台上,包括夹持台;
所述夹持台上开设有安放槽,所述安放槽具有第一侧壁和第二侧壁,所述第一侧壁与所述第二侧壁呈第一预设角度。
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