[实用新型]一种太赫兹波谱薄膜厚度提取物检测装置

权利要求书

1.一种太赫兹波谱薄膜厚度提取物检测装置，包括检测装置主体(1)，其特征在于：所述检测装置主体(1)的两侧均开设有框槽(8)和杆槽(10)，所述框槽(8)和所述杆槽(10)内分别设有网框(7)和连接杆(9)，所述网框(7)和所述连接杆(9)为一体式结构，所述网框(7)的边侧一体成型有限位块(12)，所述检测装置主体(1)壁面上与所述限位块(12)相对应的位置处开设有与之匹配的限位槽(13)，且所述限位块(12)与所述检测装置主体(1)通过紧固螺丝旋固连接，所述网框(7)内设有隔尘网(15)，所述检测装置主体(1)的外侧设置有侧防护板(3)、顶防护板(4)，所述检测装置主体(1)的两侧一体成型有衔接边条(2)，所述侧防护板(3)和所述衔接边条(2)通过固定螺丝旋固连接。

2.根据权利要求1所述的一种太赫兹波谱薄膜厚度提取物检测装置，其特征在于：所述侧防护板(3)和所述顶防护板(4)为一体式结构，且两者均为高强度透明塑料构件。

3.根据权利要求1所述的一种太赫兹波谱薄膜厚度提取物检测装置，其特征在于：所述连接杆(9)的一侧熔接固定有定位条(11)，且所述杆槽(10)壁面上靠近定位条(11)的位置处开设有定位槽(16)。

4.根据权利要求1所述的一种太赫兹波谱薄膜厚度提取物检测装置，其特征在于：所述侧防护板(3)的内壁上一体成型有卡条(5)，所述衔接边条(2)内与所述卡条(5)相对应的位置处开设有卡槽(6)。

5.根据权利要求1所述的一种太赫兹波谱薄膜厚度提取物检测装置，其特征在于：所述隔尘网(15)为双层结构，且所述框槽(8)的内侧设有内延边(14)。

6.根据权利要求1所述的一种太赫兹波谱薄膜厚度提取物检测装置，其特征在于：所述检测装置主体(1)下表面的四角位置处安装有支角。