[实用新型]一种多功能闪存芯片测试架有效

专利信息
申请号: 202021426607.3 申请日: 2020-07-17
公开(公告)号: CN213091809U 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 杨德军 申请(专利权)人: 众腾电子科技(东莞)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 广东有知猫知识产权代理有限公司 44681 代理人: 李小波
地址: 523000 广东省东莞市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 多功能 闪存 芯片 测试
【权利要求书】:

1.一种多功能闪存芯片测试架,包括主测试板(1)和辅助测试板(2),主测试板(1)的一侧活动连接有辅助测试板(2),其特征在于:所述主测试板(1)包括主板体(11)、第一插槽(12)和主开关(13),主板体(11)的表面开设有若干第一插槽(12),主板体(11)的表面边沿处设置有若干主开关(13),且主板体(11)的一侧外壁上分别安装有主USB接口(111)和主电源接口(112),主板体(11)的内侧外壁边沿处还设置有铰接件(113),铰接件(113)的另一端活动连接有辅助测试板(2);

所述辅助测试板(2)包括辅助板体(21)、第二插槽(22)和辅助开关(23),辅助板体(21)的表面加工有若干第二插槽(22),辅助板体(21)的表面边沿处设置有若干辅助开关(23),且辅助板体(21)与主USB接口(111)和主电源接口(112)相对应的一侧外壁上分别安装有辅助USB接口(211)和辅助电源接口(212)。

2.根据权利要求1所述的一种多功能闪存芯片测试架,其特征在于:所述第一插槽(12)的一侧内壁上加工有第一卡槽(121),第一插槽(12)相对第一卡槽(121)的一侧边沿处安装有第一夹柱(122),且第一插槽(12)的内腔中还插接有主测试座(123),每个主测试座(123)的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片,主测试座(123)与第一卡槽(121)相对应的一侧外壁上设置有主卡块(1231),且主卡块(1231)与第一卡槽(121)相互配合。

3.根据权利要求1所述的一种多功能闪存芯片测试架,其特征在于:所述第二插槽(22)的一侧内壁上加工有第二卡槽(221),第二插槽(22)相对第二卡槽(221)的一侧边沿处安装有第二夹柱(222),且第二插槽(22)的内腔中还插接有辅助测试座(223),每个辅助测试座(223)的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片,辅助测试座(223)与第二卡槽(221)相对应的一侧外壁上设置有辅助卡块(2231),且辅助卡块(2231)与第二卡槽(221)相互配合。

4.根据权利要求1所述的一种多功能闪存芯片测试架,其特征在于:所述主板体(11)的底面开设有放置槽(114),辅助板体(21)的内侧通过铰接件(113)活动连接主板体(11)且放置槽(114)与辅助板体(21)相互匹配。

5.根据权利要求1所述的一种多功能闪存芯片测试架,其特征在于:所述主板体(11)的底面四角处均设置有固定吸盘(115),且固定吸盘(115)为一种丁腈橡胶材质制成的构件。

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