[实用新型]一种测温模件校验设备有效

专利信息
申请号: 202021429124.9 申请日: 2020-07-20
公开(公告)号: CN212721845U 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 余友成 申请(专利权)人: 北京ABB贝利工程有限公司
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李晓光
地址: 101111 北京市北京经*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测温 模件 校验 设备
【说明书】:

实用新型提供一种测温模件校验设备,应用于测量控制技术领域,该设备包括运行校验软件的上位机、通讯模块、指令解析模块、选通控制模块,以及校验模块,上位机通过通讯模块与指令解析模块通讯连接,指令解析模块分别与选通控制模块以及待校验测温模件相连。本校验设备为校验人员提供校验测温模件的校验环境,校验人员在将待校验测温模件与指令解析模块相连后,即可通过上位机发送控制指令,控制校验电路与待校验测温模件相连,并控制待校验测温模件工作,获取待校验测温模件测量所连接校验电路的实测值,根据所得实测值以及相应校验电路提供的标准参数值即可完成校验,能够有效提高测温模件的校验效率,降低人工运维成本。

技术领域

本实用新型涉及测量控制技术领域,特别涉及一种测温模件校验设备。

背景技术

测温模件是工业生产中经常会用到的构成部件,主要用于实现生产所需的温度测量功能。为提高测量结果的准确度,测温模件大都设置有带后备电池的存储器,存储器内存储有用于修正测量值的校验参数。

在实际应用中,随着测温模件的使用,由于老化、连接松动等原因都会导致测温模件的测量精度出现不可避免的变化,都会导致存储器内所存储的校验参数与测温模件不匹配,进而导致测量结果准确度降低。因此,需要定期对测温模件进行校验,更新测温模件的校验参数,使其与测温模件的实际情况相匹配。

现有的测温模件校验过程大都需要人工搭建校验环境,整个校验过程耗时长,不仅校验效率低下,而且人工运维成本高,因此,如何提供一种测温模件校验设备,成为本领域技术人员亟待解决的问题之一。

实用新型内容

本实用新型提供一种测温模件校验设备,提高测温模件的校验效率,降低人工运维成本。

为实现上述目的,本申请提供的技术方案如下:

一种测温模件校验设备,包括:运行校验软件的上位机、通讯模块、指令解析模块、选通控制模块,以及校验模块,其中,

所述校验模块包括多路用于提供标准参数值的校验电路;

所述上位机通过所述通讯模块与所述指令解析模块通讯连接;

所述指令解析模块分别与所述选通控制模块以及待校验测温模件相连;

所述指令解析模块用于根据所述上位机的控制指令控制所述待校验测温模件工作,或者,向所述选通控制模块发送选通信号;

所述选通控制模块与所述校验模块相连,所述选通控制模块用于控制所述校验模块中与所述选通信号相对应的校验电路与所述待校验测温模件相连。

可选的,所述校验模块包括:

为所述待校验测温模件的测温通道提供基准电阻值的电阻校验电路;

为所述待校验测温模件提供标准毫伏信号的毫伏信号校验电路;

以及,

为所述待校验测温模件的补偿通道提供基准电阻值的冷端补偿校验电路。

可选的,所述电阻校验电路包括:至少一路连接控制电路和用于提供基准电阻值的基准电阻电路,其中,

各所述连接控制电路的控制端分别与所述选通控制模块相连;

所述连接控制电路用于根据所述选通控制信号控制所述基准电阻电路提供与所述选通控制信号对应的基准电阻值。

可选的,所述基准电阻电路包括:至少一个电阻选择电路,其中,

所述电阻选择电路包括至少两路电阻支路,其中,

各所述电阻支路并联连接,且各所述电阻支路的基准电阻值互不相同;

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