[实用新型]一种用于半导体材料的检测治具有效
申请号: | 202021469526.1 | 申请日: | 2020-07-23 |
公开(公告)号: | CN212601486U | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 张春林 | 申请(专利权)人: | 苏州凯萨特电子科技有限公司 |
主分类号: | B25B11/00 | 分类号: | B25B11/00;G01B21/00 |
代理公司: | 北京久维律师事务所 11582 | 代理人: | 杜权 |
地址: | 215000 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 半导体材料 检测 | ||
1.一种用于半导体材料的检测治具,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶部对称固定安装有固定块(7),所述固定块(7)的内侧转动安装有Reel支撑力臂(2),且Reel支撑力臂(2)的顶部转动安装有Reel承载轴(3),所述底座(1)的顶部固定安装有放置板(8),所述放置板(8)的顶部转动安装有标准检测板(4),且标准检测板(4)与Reel支撑力臂(2)挤压接触,所述底座(1)的内部安装有用于折叠后进行限位的卡位机构(5),且卡位机构(5)与Reel支撑力臂(2)滑动卡接,所述底座(1)靠近Reel支撑力臂(2)的一侧安装有锁止机构(6)。
2.根据权利要求1所述的一种用于半导体材料的检测治具,其特征在于:所述Reel承载轴(3)包括旋钮(301)、转轴(302)和放置孔(303),所述Reel支撑力臂(2)的顶部转动卡接有转轴(302),所述转轴(302)的一端固定安装有旋钮(301),且转轴(302)另一侧等距开设有放置孔(303)。
3.根据权利要求1所述的一种用于半导体材料的检测治具,其特征在于:所述卡位机构(5)包括卡槽(501)、卡块(502)、凹槽(503)、按钮(504)、压缩弹簧(505)、接触板(506)、传动杆(507)、挤压板(508)、限位块(509)和第一扭力弹簧(510),所述Reel支撑力臂(2)的顶部开设有卡槽(501),所述底座(1)的顶部开设有凹槽(503),且凹槽(503)内部转动连接有卡块(502),所述卡块(502)与卡槽(501)活动卡接,所述底座(1)的一侧滑动卡接有按钮(504),所述按钮(504)的外侧套接有压缩弹簧(505),且按钮(504)通过压缩弹簧(505)与底座(1)弹性连接,所述按钮(504)的底部固定连接有传动杆(507),且传动杆(507)远离按钮(504)的一端固定连接有挤压板(508),所述卡块(502)与凹槽(503)转动连接处安装有第一扭力弹簧(510),且卡块(502)的一侧固定安装有限位块(509),所述挤压板(508)与限位块(509)挤压接触,所述底座(1)的顶部位于凹槽(503)的一侧安装有接触板(506),且接触板(506)与Reel支撑力臂(2)挤压接触。
4.根据权利要求1所述的一种用于半导体材料的检测治具,其特征在于:所述锁止机构(6)包括固定板(601)、滑动板(602)、旋转杆(603)、凸块(604)、限位孔(605)、定位块(606)和拉伸弹簧(607),所述底座(1)位于固定块(7)的一侧固定安装有固定板(601),且固定板(601)的内部滑动连接有滑动板(602),所述固定板(601)内部对称安装有拉伸弹簧(607),且拉伸弹簧(607)远离固定板(601)的一端与滑动板(602)固定连接,所述固定板(601)内转动连接有旋转杆(603),且旋转杆(603)的外侧套接有凸块(604),所述凸块(604)与滑动板(602)挤压接触,且滑动板(602)远离凸块(604)的一侧等距安装有定位块(606),所述Reel支撑力臂(2)靠近固定板(601)的一侧等距开设有限位孔(605),且定位块(606)与限位孔(605)滑动卡接。
5.根据权利要求1所述的一种用于半导体材料的检测治具,其特征在于:所述标准检测板(4)与放置板(8)转动连接处安装有第二扭力弹簧(9),所述底座(1)的顶部固定安装有支撑块(10),且支撑块(10)与标准检测板(4)挤压接触,所述Reel支撑力臂(2)的一侧开设有挤压槽(11),且挤压槽(11)与标准检测板(4)挤压接触。
6.根据权利要求1所述的一种用于半导体材料的检测治具,其特征在于:所述底座(1)的一侧固定安装有安装座(12),且安装座(12)的内部转动安装有提手(13)。
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