[实用新型]一种测量E型工件壁厚的机构有效
申请号: | 202021475888.1 | 申请日: | 2020-07-23 |
公开(公告)号: | CN212310133U | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 杨海涛;齐玉昌;厉力波 | 申请(专利权)人: | 横店集团东磁股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/02 | 分类号: | B07C5/02;B07C5/08;B07C5/36 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 张金刚 |
地址: | 322118 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 工件 机构 | ||
本实用新型公开了一种测量E型工件壁厚的机构,包括进料输送带,进料输送带出料端的一侧设有推料气缸,且进料输送带出料端的另一侧设有测量基准平台,测量基准平台远离进料输送带的一端设有出料输送带,测量基准平台远离进料输送带一端的上方设有电子千分表,进料输送带和电子千分表分别与控制器信号连接。本实用新型利用传统的基准块配合电子千分表来测量E型工件的壁厚,并通过输送机构进行自动输送,提高了E型工件壁厚测量的效率,降低了工作人员的劳动强度。
技术领域
本实用新型属于E型工件壁厚检测技术领域,具体涉及一种测量E型工件壁厚的机构。
背景技术
如图3所示,在生产过程中需要对E型工件的内腔B面至底部A面的壁厚h尺寸进行检测来判定工件的合格与否,现有的测量方式为用千分表进行取点测量,但是由于内腔B面位置处的空间小测量头无法准确接触B面,导致测量不准确,本身单一取点就具有随机性不能准确判定壁厚的尺寸,而且此种测量效率极低;还有一种测量方式是采用激光测量,激光测量需要在A面和B面方向各设置一个激光测量头,以其中的一个为测量基准来测量然后转换出壁厚h尺寸,此种测量方式对激光测量头的安装精度及环境振动等要求高,而且造价成本高。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种测量E型工件壁厚的机构,以解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供的一种测量E型工件壁厚的机构,具有测量结果准确、容易进行操作且使用成本低的特点。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种测量E型工件壁厚的机构,包括进料输送带,进料输送带出料端的一侧设有推料气缸,且进料输送带出料端的另一侧设有测量基准平台,测量基准平台远离进料输送带的一端设有出料输送带,测量基准平台远离进料输送带一端的上方设有电子千分表,进料输送带和电子千分表分别与控制器信号连接。
在本实用新型中进一步地,进料输送带的出料端上连接有阻挡块。
在本实用新型中进一步地,进料输送带的出料端上连接有到位传感器,到位传感器与控制器信号连接。
在本实用新型中进一步地,测量基准平台上位于电子千分表的一侧连接有测量到位传感器,测量到位传感器与控制器信号连接。
在本实用新型中进一步地,电子千分表的检测端上连接有测量头。
在本实用新型中进一步地,测量基准平台上设有E型槽。
在本实用新型中进一步地,出料输送带的一侧连接有剔除吹气嘴,且出料输送带的另一侧连接有与剔除吹气嘴相对应的不合格品收集盒。
在本实用新型中进一步地,剔除吹气嘴的一侧设有不合格品剔除检测传感器,不合格品剔除检测传感器与控制器信号连接。
在本实用新型中进一步地,所述的测量E型工件壁厚的机构的实现方法,包括以下步骤:
(一)、待测量E型工件通过进料输送带往后输送,当E型工件到达阻挡块的位置处时,触发到位传感器,到位传感器触发信号给控制器;
(二)、然后控制器控制推料气缸动作将待测E型工件推入测量基准平台;
(三)、当待测E型工件在测量基准平台上到达测量位置处时,测量到位传感器触发信号,然后控制器控制电子千分表对E型工件的壁厚h进行测量,对测量数据进行记录;
(四)、测量完毕的E型工件通过出料输送带往后输送;
(五)、当运行过程中到达不合格品剔除检测传感器的位置处时,不合格品剔除检测传感器触发信号给控制器,控制器根据之前记录的数据来判断该E型工件是否合格,若该E型工件不合格,则触发剔除吹气嘴动作,将不合格品吹入不合格品收集盒中,若该E型工件合格,则继续输送至下一工序。
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