[实用新型]一种高效键盘按键拉拔检测机构

说明书

本实用新型公开了一种高效键盘按键拉拔检测机构，其包括键盘上下料输送模组、位于所述键盘上下料输送模组上方的拉拔测试头模组，所述拉拔测试头模组包括一Z轴移载机构、受所述Z轴移载机构驱动进行上下运动的支撑架、固定在所述支撑架上的至少十二组测试头组件，所述测试头组件包括第一驱动件、受所述第一驱动件驱动沿X轴运动的第一活动板、固定在所述第一活动板上的第二驱动件、受所述第二驱动件驱动进行上下运动的压力传感器、设置在所述压力传感器感应端的拉拔块、设置在所述拉拔块末端的所述拉钩。本实用新型大大提高了键帽拉拔检测效率。

【技术领域】

本实用新型属于键盘拉拔测试技术领域，特别是涉及一种高效键盘按键拉拔检测机构。

【背景技术】

键盘一般是由铝基板、线路板、剪刀支撑架和键帽组装而成的，目前已知的造成键盘键帽弹力或拉拔力不良的主要原因有：1)来料不良，例如铝基板卡勾变形、剪刀支撑架中轴断裂或内外剪刀配装键帽结构处缺料和崩塌、键帽的四角与内外剪刀配装处(即书面名为水滴孔和滑槽结构)存在不良；2)装配不良，例如在组装的过程中由于人为或组装的机械设备不良损坏了键盘或键帽结构。以上两点造成键盘键帽弹力或拉拔力不足或没有弹力的主要原因，将直接导致键盘做成成品后会严重影响键盘的使用寿命和使用的机械手感。所以键帽安装到键盘上后，为了确保后续使用的可靠性，需要对键盘键帽组装后的拉拔力进行测试。

本公司始终致力于键盘组装、检测领域，研发了较多的键盘键帽检测设备，以前对于键盘键帽的拉拔检测，其拉拔测试头都是设置的6组，而现有市面上的键盘绝大多数都是6行，对于键帽的拉拔检测，要从键帽的两边分别将其钩起，检测在设定的拉拔力作用下，键帽是否发生变形、脱离键盘本体等现象，从而判定键帽是否合格；因此，6组拉拔测试头的检测设备在测试时，则需要横向移动一行键帽的距离，并沿键盘长边走两遍才能完成键帽12条边的检测，其检测效率还存在提升空间；且拉拔测试头的整体横向移动由于移载机构的背隙，容易存在移动偏差，导致在进行另一组边的键帽拉拔测试时，由于拉钩实际移动位置偏移，导致拉钩检测时与键帽或弹性支架发生碰撞而损坏，严重影响检测效率。

因此，有必要提供一种新的高效键盘按键拉拔检测机构来解决上述问题。

【实用新型内容】

本实用新型的主要目的在于提供一种高效键盘按键拉拔检测机构，大大提高了键帽拉拔检测效率。

本实用新型通过如下技术方案实现上述目的：一种高效键盘按键拉拔检测机构，其包括键盘上下料输送模组、位于所述键盘上下料输送模组上方的拉拔测试头模组，所述拉拔测试头模组包括一Z轴移载机构、受所述Z轴移载机构驱动进行上下运动的支撑架、固定在所述支撑架上的至少十二组测试头组件，所述测试头组件包括第一驱动件、受所述第一驱动件驱动沿X轴运动的第一活动板、固定在所述第一活动板上的第二驱动件、受所述第二驱动件驱动进行上下运动的压力传感器、设置在所述压力传感器感应端的拉拔块、设置在所述拉拔块末端的所述拉钩。

进一步的，所述十二组测试头组件分为两组沿X轴相对设置在所述支撑架上，每组六个所述测试头组件沿Y轴方向并排设置。

进一步的，所述十二组测试头组件中，其中有五对所述测试头组件的所述拉钩位于同一条与Y轴平行的键帽槽缝中，另外两个所述测试头组件分别位于最外排的两行键帽的外侧边。

进一步的，所述拉拔测试头模组还包括一X轴移载机构、受所述X轴移载机构驱动沿X轴运动的第二活动板，所述Z轴移载机构固定在所述第二活动板上。

进一步的，键盘上下料输送模组包括平行设置的第一Y轴移载机构与第二Y轴移载机构；所述第一Y轴移载机构与所述第二Y轴移载机构均包括第三驱动件、受所述第三驱动件驱动沿Y轴运动的键盘压紧治具。