[实用新型]TOF测距装置有效
申请号: | 202021520243.5 | 申请日: | 2020-07-28 |
公开(公告)号: | CN212749253U | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 张义荣 | 申请(专利权)人: | 传周半导体科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G01S17/10 | 分类号: | G01S17/10 |
代理公司: | 北京久维律师事务所 11582 | 代理人: | 邢江峰 |
地址: | 200003 上海市浦东新区中国(上海)*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | tof 测距 装置 | ||
1.一种TOF测距装置,其特征在于,包括:
基板,设置有第一阶梯、第二阶梯以及第三阶梯;
发射模块,设置在所述基板的第一阶梯上,用于向目标物发射光信号;
接收模块,设置在所述基板的第二阶梯上,用于接收由所述目标物反射回的所述光信号;以及
控制模块,设置在所述基板的第三阶梯上,用于控制发射模块向目标物发射光信号,并控制接收模块接收由所述目标物反射回的所述光信号,以及计算所述发射模块发射的所述光信号与所述接收模块接收到的所述光信号的时间差,并基于所述时间差获取所述目标物的距离。
2.如权利要求1所述的TOF测距装置,其特征在于,所述基板的第一阶梯、第二阶梯以及第三阶梯为一体成型,且所述第一阶梯和第二阶梯被所述第三阶梯隔开。
3.如权利要求2所述的TOF测距装置,其特征在于,所述第一阶梯和第二阶梯具有第一高度,第三阶梯具有第二高度,所述第一高度比第二高度高。
4.如权利要求2所述的TOF测距装置,其特征在于,所述第一阶梯具有第一高度,所述第二阶梯具有第二高度,所述第三阶梯具有第三高度,所述第三高度比第一高度和第二高度低。
5.如权利要求1所述的TOF测距装置,其特征在于,所述基板为玻璃陶瓷基板。
6.如权利要求1所述的TOF测距装置,其特征在于,所述基板中设置有金属线路,所述发射模块、接收模块通过所述金属线路与所述控制模块连接。
7.如权利要求1所述的TOF测距装置,其特征在于,所述发射模块上方还设置有扩散膜,用于控制发射角度。
8.如权利要求1所述的TOF测距装置,其特征在于,所述接收模块上方还设置有透镜,用于将光线聚集到所述接收模块上。
9.如权利要求8所述的TOF测距装置,其特征在于,所述透镜上设置有纳米材料镀膜,用于增强光线入射。
10.如权利要求1所述的TOF测距装置,其特征在于,所述发射模块为垂直腔面发射激光器。
11.如权利要求10所述的TOF测距装置,其特征在于,所述垂直腔面发射激光器的最大光束角为120度。
12.如权利要求1所述的TOF测距装置,其特征在于,所述接收模块为单光子雪崩光电二极管图像传感器。
13.如权利要求12所述的TOF测距装置,其特征在于,所述单光子雪崩光电二极管图像传感器包括128*64像素阵列。
14.如权利要求13所述的TOF测距装置,其特征在于,所述单光子雪崩光电二极管图像传感器中每颗像素的尺寸为10微米。
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